[發明專利]一種檢測設備的檢測方法及檢測裝置

在審

• 申請號: 202011069221.6
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112184682A
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: 陳魯;呂肅;黃有為;方一;張嵩
• 申請（專利權）人: 深圳中科飛測科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/60;G06T7/73;G01B21/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 柳虹

本申請實施例公開了一種檢測設備的檢測方法及檢測裝置，檢測設備具有測量方向、根據測量方向確定的設備參考系以及與測量方向對應的基準方向，檢測設備包括檢測模塊，待測物包括第一特征點和第二特征點，第一特征點和第二特征點之間具有預設距離，在檢測模塊和第一特征點具有第一相對位置時，可以利用檢測設備對第一特征點進行第一檢測，獲取第一特征點在設備參考系中的第一位置信息，在檢測模塊和第二特征點具有第二相對位置時，可以利用檢測設備對第二特征點進行第二檢測，獲取第二特征點在設備參考系中的第二位置信息，根據預設距離、第一位置信息和第二位置信息，獲取待測夾角，以提高檢測設備的檢測準確性。

技術領域

本申請涉及檢測領域，特別是涉及一種檢測設備的檢測方法及檢測裝置。

背景技術

目前，可以利用檢測設備對待測物上的特征點進行檢測，得到對多個特征點進行檢測的檢測結果，進而根據多個特征點的檢測結果確定待測物的形貌。在對特征點進行檢測的過程中，可以為檢測設備預先設置基準方向，通過檢測設備的檢測特性、固定方向以及對檢測設備的檢測結果的分析，可以將檢測設備得到的檢測結果處理為沿基準方向的位置信息，從而確定特征點的實際位置。其中，對于多個特征點而言，基準方向是一致的，從而可以體現各個特征點的相對位置。例如基準方向為豎直方向時，特征點在基準方向的位置信息可以通過各個特征點的高度體現，檢測設備的固定方向可以有多種對應不同的分析過程，從而利用對特征點的檢測結果得到特征點的高度。也就是說，檢測設備的檢測特性、固定方向以及檢測結果的分析過程是對應的，從而可以將檢測結果轉換為沿基準方向的位置信息。

然而在檢測設備的固定過程中可能存在固定誤差，在檢測特性和對檢測結果的分析過程不變的情況下，得到的位置信息不再是沿著基準方向，而是沿著與基準方向有一定夾角的方向，這個方向可以作為實際測量方向，實際測量方向和基準方向之間的夾角，與檢測設備的固定過程中的誤差相關。舉例來說，基準方向為豎直方向時，可以將測高設備豎直向下固定，這樣檢測得到的測高設備與特征點的距離沿豎直方向，可以作為測高設備與特征點的高度差，從而用于確定特征點的高度，而在測高設備并非豎直向下固定，而是與豎直方向存在一定角度時，測高設備與特征點的距離不再沿著豎直方向，而是沿著實際測量方向，因此將不能作為測高設備與特征點的高度差。

因此，在檢測設備存在固定誤差時，基于檢測結果分析得到的位置信息也存在誤差，導致檢測設備的檢測準確性較低。

發明內容

為解決上述技術問題，本申請實施例提供一種檢測設備的檢測方法及檢測裝置，準確確定出檢測設備的測量方向與基準方向的夾角，以提高檢測設備的檢測準確性。

本申請實施例提供了一種檢測設備的檢測方法，所述檢測設備具有測量方向、根據所述測量方向確定的設備參考系以及與所述測量方向對應的基準方向，所述檢測設備包括檢測模塊，待測物包括第一特征點和第二特征點，所述第一特征點和所述第二特征點之間具有預設距離，所述方法包括：

在所述檢測模塊和所述第一特征點具有第一相對位置時，利用所述檢測設備對所述第一特征點進行第一檢測，獲取所述第一特征點在所述設備參考系中的第一位置信息；在所述第一相對位置時所述檢測模塊與所述第一特征點之間具有第一距離矢量；

在所述檢測模塊和所述第二特征點具有第二相對位置時，利用所述檢測設備對所述第二特征點進行第二檢測，獲取所述第二特征點在所述設備參考系中的第二位置信息；在所述第二相對位置處所述檢測模塊與所述第二特征點之間具有第二距離矢量，所述第一距離矢量和所述第二距離矢量在所述基準方向上具有第一預設差值，所述第一預設差值為非零值；

根據所述預設距離、所述第一位置信息和所述第二位置信息，獲取所述基準方向和所述測量方向之間的待測夾角。