[發明專利]一種檢測設備的檢測方法及檢測裝置

在審

• 申請號: 202011069221.6
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112184682A
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: 陳魯;呂肅;黃有為;方一;張嵩
• 申請（專利權）人: 深圳中科飛測科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/60;G06T7/73;G01B21/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 柳虹

1.一種檢測設備的檢測方法，其特征在于，所述檢測設備具有測量方向、根據所述測量方向確定的設備參考系以及與所述測量方向對應的基準方向，所述檢測設備包括檢測模塊，待測物包括第一特征點和第二特征點，所述第一特征點和所述第二特征點之間具有預設距離，所述方法包括：

在所述檢測模塊和所述第一特征點具有第一相對位置時，利用所述檢測設備對所述第一特征點進行第一檢測，獲取所述第一特征點在所述設備參考系中的第一位置信息；在所述第一相對位置時所述檢測模塊與所述第一特征點之間具有第一距離矢量；

在所述檢測模塊和所述第二特征點具有第二相對位置時，利用所述檢測設備對所述第二特征點進行第二檢測，獲取所述第二特征點在所述設備參考系中的第二位置信息；在所述第二相對位置處所述檢測模塊與所述第二特征點之間具有第二距離矢量，所述第一距離矢量和所述第二距離矢量在所述基準方向上具有第一預設差值，所述第一預設差值為非零值；

根據所述預設距離、所述第一位置信息和所述第二位置信息，獲取所述基準方向和所述測量方向之間的待測夾角。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量方向與所述基準方向均位于測量面內，所述預設距離為所述第一特征點和所述第二特征點在所述測量面內投影之間的距離；所述設備參考系包括所述測量面內的第一方向和第二方向，所述第一方向和第二方向垂直或具有銳角夾角，所述第一方向與所述基準方向之間具有第一基準角，所述第二方向與所述基準方向之間具有第二基準角；

所述第一位置信息包括：所述第一特征點沿所述第一方向的第一位置分量，以及所述第一特征點沿所述第二方向的第二位置分量；所述第二位置信息包括：所述第二特征點沿所述第一方向的第三位置分量，以及所述第二特征點沿所述第二方向的第四位置分量。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述檢測模塊具有第一基準點，所述待測物具有第二基準點，所述第二基準點位于所述設備參考系中，且在所述設備參考系中具有固定位置；

獲取所述第一位置分量和所述第二位置分量的步驟包括：在所述第一相對位置處，獲取所述第一基準點與所述第二基準點的第一基準相對位移，以及所述第一特征點與所述第一基準點的第一特征相對位移；根據所述第一基準相對位移、所述第一特征相對位移、所述第一基準角和所述待測夾角，獲取所述第一位置分量；根據所述第一基準相對位移、所述第一特征相對位移、所述第二基準角和所述待測夾角，獲取所述第二位置分量；

獲取所述第三位置分量和所述第四位置分量的步驟包括：在所述第二相對位置處，獲取所述第一基準點與所述第二基準點的第二基準相對位移，以及所述第二特征點與所述第一基準點的第二特征相對位移；根據所述第二基準相對位移、所述第二特征相對位移、所述第一基準角和所述待測夾角，獲取所述第三位置分量；根據所述第二基準相對位移、所述第二特征相對位移、所述第二基準角和所述待測夾角，獲取所述第四位置分量。