[發(fā)明專利]測(cè)試方法和裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011066469.7
• 申請(qǐng)日: 2020-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN114325294A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張鵬;許超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 龍芯中科技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 李陽(yáng);臧建明

本發(fā)明實(shí)施例提供一種測(cè)試方法和裝置，應(yīng)用于對(duì)目標(biāo)芯片的測(cè)試中，方法包括：獲取測(cè)試所述目標(biāo)芯片所需的測(cè)試向量；其中，所述測(cè)試向量的數(shù)量為至少一個(gè)；分別從每個(gè)所述測(cè)試向量的測(cè)試端口信息中提取掃描端口信息；根據(jù)預(yù)設(shè)壓縮倍數(shù)，分別對(duì)所述每個(gè)測(cè)試向量的掃描端口信息進(jìn)行壓縮和格式轉(zhuǎn)換，得到每個(gè)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試向量；采用所述目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)所述目標(biāo)芯片進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例通過在測(cè)試向量的端口信息中提取出到掃描端口信息并對(duì)掃描端口信息部分進(jìn)行壓縮，降低了測(cè)試向量的測(cè)試深度，減小了測(cè)試向量在ATE中的存儲(chǔ)空間，從而降低了測(cè)試成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實(shí)施例涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試方法和裝置。

背景技術(shù)

隨著集成電路設(shè)計(jì)在納米領(lǐng)域的不斷發(fā)展，芯片性能越來越強(qiáng)大。但是納米級(jí)故障數(shù)目的增加以及芯片的時(shí)鐘越來越快，使得可測(cè)性設(shè)計(jì)(Design For Testability，DFT)越來越復(fù)雜。而DFT已經(jīng)成為設(shè)計(jì)超大規(guī)模集成(Very Large Scale Integration，VLSI)電路中的最重要一環(huán)。測(cè)試VLSI電路數(shù)字部分最主要的DFT技術(shù)包括掃描設(shè)計(jì)技術(shù)和邏輯內(nèi)建自測(cè)試的方法，其中掃描測(cè)試技術(shù)應(yīng)用最廣泛。

相關(guān)技術(shù)中，芯片的測(cè)試方法為：通過自動(dòng)測(cè)試向量生成(Automatic TestPattern Generation，ATPG)工具產(chǎn)生針對(duì)芯片中各種故障模型的測(cè)試向量，將測(cè)試向量轉(zhuǎn)換成自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment，ATE)所需要的特定格式的測(cè)試向量，由ATE將特定格式的測(cè)試向量輸入芯片的被測(cè)模塊，將被測(cè)模塊的輸出結(jié)果與預(yù)期存儲(chǔ)的結(jié)果進(jìn)行比較，從而判斷芯片的被測(cè)模塊是否合格。

然而，ATPG產(chǎn)生的測(cè)試向量都是通過轉(zhuǎn)換工具直接轉(zhuǎn)換成ATE所需要的特定格式的向量，使得測(cè)試向量占用ATE的存儲(chǔ)空間大，從而導(dǎo)致芯片的測(cè)試成本高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供一種測(cè)試方法和裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中直接通過轉(zhuǎn)換工具對(duì)測(cè)試向量進(jìn)行轉(zhuǎn)換導(dǎo)致的測(cè)量向量占用深度大、芯片測(cè)量成本的問題。

本發(fā)明實(shí)施例的第一方面提供一種測(cè)試方法，應(yīng)用于對(duì)目標(biāo)芯片的測(cè)試中，包括：

獲取測(cè)試所述目標(biāo)芯片所需的測(cè)試向量；其中，所述測(cè)試向量的數(shù)量為至少一個(gè)；

分別從每個(gè)所述測(cè)試向量的測(cè)試端口信息中提取掃描端口信息；

根據(jù)預(yù)設(shè)壓縮倍數(shù)，分別對(duì)所述每個(gè)測(cè)試向量的掃描端口信息進(jìn)行壓縮和格式轉(zhuǎn)換，得到每個(gè)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試向量；

采用所述目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)所述目標(biāo)芯片進(jìn)行測(cè)試。

可選的，所述得到目標(biāo)測(cè)試向量之前，所述方法還包括：

分別從所述每個(gè)測(cè)試向量的端口信息中提取非掃描端口信息；其中，所述非掃描端口信息和所述掃描端口信息不同；

對(duì)所述非掃描端口信息進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換，或者，對(duì)所述非掃描端口信息進(jìn)行壓縮和格式轉(zhuǎn)換。

可選的，任意一所述測(cè)試向量中包括邏輯功能的輸入輸出狀態(tài)的描述信息；分別從每個(gè)所述測(cè)試向量的測(cè)試端口信息中提取掃描端口信息和非掃描端口信息的方法，包括：

針對(duì)任意一測(cè)試向量，根據(jù)該測(cè)試向量的描述信息，從該測(cè)試向量的端口信息中提取掃描端口信息和非掃描端口信息。

可選的，所述采用所述目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)所述目標(biāo)芯片進(jìn)行測(cè)試，包括：

將所述目標(biāo)測(cè)試向量輸入所述目標(biāo)芯片，得到輸出結(jié)果；

將所述輸出結(jié)果與預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較，獲取比較結(jié)果；

根據(jù)所述比較結(jié)果，判斷所述目標(biāo)芯片是否合格。