[發明專利]測試方法和裝置

在審

• 申請號: 202011066469.7
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN114325294A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 張鵬;許超
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 李陽;臧建明

1.一種測試方法，應用于對目標芯片的測試中，其特征在于，包括：

獲取測試所述目標芯片所需的測試向量；其中，所述測試向量的數量為至少一個；

分別從每個所述測試向量的測試端口信息中提取掃描端口信息；

根據預設壓縮倍數，分別對所述每個測試向量的掃描端口信息進行壓縮和格式轉換，得到每個測試向量對應的目標測試向量；

采用所述目標測試向量對所述目標芯片進行測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述得到目標測試向量之前，所述方法還包括：

分別從所述每個測試向量的端口信息中提取非掃描端口信息；其中，所述非掃描端口信息和所述掃描端口信息不同；

對所述非掃描端口信息進行格式轉換，或者，對所述非掃描端口信息進行壓縮和格式轉換。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，任意一所述測試向量中包括邏輯功能的輸入輸出狀態的描述信息；分別從每個所述測試向量的測試端口信息中提取掃描端口信息和非掃描端口信息的方法，包括：

針對任意一測試向量，根據該測試向量的所述描述信息，從該測試向量的端口信息中提取掃描端口信息和非掃描端口信息。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述采用所述目標測試向量對所述目標芯片進行測試，包括：

將所述目標測試向量輸入所述目標芯片，得到輸出結果；

將所述輸出結果與預期結果進行比較，獲取比較結果；

根據所述比較結果，判斷所述目標芯片是否合格。

5.根據權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，分別從每個所述測試向量的測試端口信息中提取掃描端口信息之前，所述方法還包括：

根據功能描述符，分別對每個測試向量進行拆分，獲取每個測試向量配置部分和測試端口信息；

分別對每一個測試向量的配置部分進行修改；

根據預設壓縮倍數，分別對所述每個測試向量的掃描端口信息進行壓縮和格式轉換，得到每個測試向量對應的目標測試向量，包括：

針對任意一測試向量，將該測試向量修改后的配置部分，以及該測試向量壓縮和格式轉換后的掃描端口信息進行重構后，得到該測試向量對應的目標測試向量。

6.一種測試裝置，應用于對目標芯片的測試中，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取測試所述目標芯片所需的測試向量；其中，所述測試向量的數量為至少一個；

提取模塊，用于分別從每個所述測試向量的測試端口信息中提取掃描端口信息；

處理模塊，用于根據預設壓縮倍數，分別對所述每個測試向量的掃描端口信息進行壓縮和格式轉換，得到每個測試向量對應的目標測試向量；

測試模塊，用于采用所述目標測試向量對所述目標芯片進行測試。

7.根據權利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述提取模塊還用于：在得到目標測試向量之前，分別從所述每個測試向量的端口信息中提取非掃描端口信息；其中，所述非掃描端口信息和所述掃描端口信息不同；

所述處理模塊具體用于對所述非掃描端口信息進行格式轉換，或者，對所述非掃描端口信息進行壓縮和格式轉換。

8.根據權利要求6所述的測試裝置，其特征在于，任意一所述測試向量中包括邏輯功能的輸入輸出狀態的描述信息；所述提取模塊具體用于：

針對任意一測試向量，根據該測試向量的所述描述信息，從該測試向量的端口信息中提取掃描端口信息和非掃描端口信息。

9.根據權利要求6-8任一項所述的測試裝置，其特征在于，所述測試模塊具體用于：

將所述目標測試向量輸入所述目標芯片，得到輸出結果；

將所述輸出結果與預期結果進行比較，獲取比較結果；

根據所述比較結果，判斷所述目標芯片是否合格。

10.根據權利要求6-9任一項所述的測試裝置，其特征在于，所述獲取模塊還用于：

在分別從每個所述測試向量的測試端口信息中提取掃描端口信息之前，根據功能描述符，分別對每個測試向量進行拆分，獲取每個測試向量配置部分和測試端口信息；

分別對每一個測試向量的配置部分進行修改；

所述處理模塊還用于：

針對任意一測試向量，將該測試向量修改后的配置部分，以及該測試向量壓縮和格式轉換后的掃描端口信息進行重構后，得到該測試向量對應的目標測試向量。