[發明專利]測試向量的存儲和調試方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011066462.5
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN114328037A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 張鵬
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;臧建明

1.一種測試向量的存儲方法，應用于芯片中，其特征在于，包括：

確定多個測試向量；其中，所述多個測試向量針對所述芯片中的同一測試問題，且所述多個測試向量中任意兩個測試向量對應的所述測試問題的測試頻率不同；

分別對每個所述測試向量進行劃分，獲取每個所述測試向量的配置部分和測試端口部分；

存儲所述多個測量向量的信息；其中，所述多個測試向量的信息包括獲取的所述每個測試向量的配置部分和任意一個所述測試向量的測試端口部分。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

對所述測試端口部分進行壓縮處理，得到所述測試端口部分的壓縮結果；

所述存儲所述多個測量向量的信息，包括：

存儲所述獲取的每個測試向量的配置部分；以及

存儲所述測試端口部分的壓縮結果。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試端口部分包括掃描部分和非掃描部分；所述對所述測試端口部分進行壓縮處理，包括：

對測試端口部分中的掃描部分進行第一壓縮處理；以及

對測試端口部分中的非掃描部分進行第二壓縮處理；

其中，所述第二壓縮處理所采用的壓縮倍數大于所述第一壓縮處理所采用的壓縮倍數。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述芯片為多核芯片；存儲所述多個測量向量的信息，包括：

對于多核芯片中的同構核，存儲一個目標核對應的多個測試向量的信息，其中，所述目標核為所述同構核中的任意一個核。

5.一種測試向量的調試方法，應用于芯片中，其特征在于，包括：

獲取多個測量向量的信息；其中，所述多個測試向量的信息包括，所述多個測試向量的配置部分和所述多個測試向量中任意一個測試向量的模型測試端口部分，所述多個測試向量針對所述芯片中的同一測試問題，且所述多個測試向量中任意兩個測試向量對應的所述測試問題的測試頻率不同；

根據測試通路，確定所述多個測試向量；其中，每個測試向量包括該測試向量的配置部分和所述測試端口部分。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述多個測試向量的信息包括：所述多個測試向量的配置部分和所述多個測試向量中任意一個測試向量的測試端口部分的壓縮結果；

所述方法還包括：

對所述多個測試向量中任意一個測試向量的測試端口部分的壓縮結果進行解壓縮處理，得到所述測試端口部分。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試端口部分包括掃描部分和非掃描部分；對所述測試端口部分的壓縮結果進行解壓縮處理，包括：

對測試端口部分中的掃描部分進行第一解壓縮處理；以及

對測試端口中部分的非掃描部分進行第二解壓縮處理；

其中，所述第二解壓縮處理所采用的壓縮倍數大于所述第一解壓縮處理所采用的壓縮倍數。

8.根據權利要求5-7任一項所述的方法，其特征在于，所述芯片為多核芯片；根據目標核對應的多個測試向量的信息，獲取與所述目標核為同構核的測試向量的信息。

9.一種測試向量的存儲裝置，其特征在于，包括：

第一確定模塊，確定多個測試向量；其中，所述多個測試向量針對芯片中的同一測試問題，且所述多個測試向量中任意兩個測試向量對應的所述測試問題的測試頻率不同；

分別對每個所述測試向量進行劃分，獲取每個所述測試向量的配置部分和測試端口部分；

第一存儲模塊，用于存儲所述多個測量向量的信息；其中，所述多個測試向量的信息包括獲取的所述每個測試向量的配置部分和任意一個所述測試向量的測試端口部分。