[發明專利]測試向量的存儲和調試方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011066462.5
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN114328037A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 張鵬
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;臧建明

本申請提供一種測試向量的存儲和調試方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括：確定多個測試向量；其中，多個測試向量針對芯片中的同一測試問題，且多個測試向量中任意兩個測試向量對應的測試問題的測試頻率不同；分別對每個測試向量進行劃分，獲取每個測試向量的配置部分和測試端口部分；存儲多個測量向量的信息；其中，多個測試向量的信息包括獲取的每個測試向量的配置部分和任意一個測試向量的測試端口部分。本申請的方法，通過將測試向量分成配置部分及測試端口部分進行存儲，由于只存儲了一個相同的測試端口部分，節省了測試向量的占用空間，并沒有改變測試向量本身的性質，因此提高了測試結果的準確性。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，尤其涉及一種測試向量的存儲和調試方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

隨著集成電路設計的不斷發展，多核芯片得到了越來越廣泛的應用，由于多核芯片核數眾多，因而基于多核芯片的可測性設計產生的測量向量也越來越多，測試向量占用空間大，導致測試成本較高。

現有技術為了節省空間，節約測試成本，直接對大量的測試向量進行壓縮，采用壓縮后的測試向量在芯片中進行調試。

然而，現有技術降低了測試結果的準確性。

發明內容

本申請提供一種測試向量的存儲和調試方法、裝置、設備及存儲介質，解決了現有技術測試結果的準確性低的問題。

第一方面，本申請提供一種測試向量的存儲方法，包括：

確定多個測試向量；其中，多個測試向量針對芯片中的同一測試問題，且多個測試向量中任意兩個測試向量對應的測試問題的測試頻率不同，分別對每個測試向量進行劃分，獲取每個測試向量的配置部分和測試端口部分；存儲多個測量向量的信息；其中，多個測試向量的信息包括獲取的每個測試向量的配置部分和任意一個測試向量的測試端口部分，通過將測試向量分成配置部分及測試端口部分進行存儲，只存儲一個測試向量中相同的測試端口部分，減少了測試向量占用的空間，存儲測試向量的不同的配置部分，提高了測試結果的準確性。

可選的，對測試端口部分進行壓縮處理，得到測試端口部分的壓縮結果；存儲多個測量向量的信息，包括：存儲獲取的每個測試向量的配置部分；以及存儲測試端口部分的壓縮結果，通過將測試向量的測試端口部分進行壓縮，在保證測試結果的準確性的基礎上，進一步的節約了測試向量占用的空間。

可選的，測試端口部分包括掃描部分和非掃描部分；對測試端口部分進行壓縮處理，包括：對測試端口部分中的掃描部分進行第一壓縮處理，；以及對測試端口部分中的非掃描部分進行第二壓縮處理；其中，第二壓縮處理所采用的壓縮倍數大于第一壓縮處理所采用的壓縮倍數，將測試端口部分分為掃描端口和非掃描端口進行壓縮，減少了測試向量占用空間的同時，進一步的保證了測試結果的準確性。

可選的，芯片為多核芯片；存儲多個測量向量的信息，包括：對于多核芯片中的同構核，存儲一個目標核對應的多個測試向量的信息，其中，目標核為同構核中的任意一個核，只存儲一個多核芯片中的同構核的信息，在保證測試結果的準確性的基礎上，進一步的節約了測試向量占用的空間。

第二方面，本申請提供一種測試向量的存儲方法，包括：

對測試向量的測試端口部分進行壓縮處理，得到測試端口部分的壓縮結果，其中，測試向量包括配置部分和測試端口部分；存儲測量向量的信息，測試向量的信息包括配置部分和壓縮測試端口部分的壓縮結果，對測試向量的測試端口部分進行壓縮處理，再存儲測試向量的配置部分和測試端口部分，由于對測試向量的測試端口部分進行壓縮處理不會影響測試向量的測試結果，因此在節省測試向量存儲空間的同時提高了測試結果的準確性。

可選的，對測試向量的測試端口部分進行壓縮處理，包括：