[發(fā)明專利]一種抗dv/dt的SGT器件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011065162.5 | 申請日: | 2020-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN111987074A | 公開(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郭喬;林泳浩;李偉聰 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市威兆半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/552 | 分類號: | H01L23/552;H01L29/78;H01L29/423 |
| 代理公司: | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384 | 代理人: | 彭西洋;袁曼曼 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 dv dt sgt 器件 | ||
本發(fā)明公開一種抗dv/dt的SGT器件,包括:第一導(dǎo)電類型的襯底、位于第一導(dǎo)電類型的襯底的上表面的第一導(dǎo)電類型的外延層、位于第一導(dǎo)電類型的外延層內(nèi)的溝槽、第一介質(zhì)層、位于溝槽底部的第一導(dǎo)電類型的輕摻雜體區(qū)、位于第一介質(zhì)層外圍的第一導(dǎo)電類型的重?fù)诫s體區(qū)、位于第一導(dǎo)電類型的外延層側(cè)面上方的源極金屬、位于溝槽上表面的第二介質(zhì)層,以及位于溝槽內(nèi)的多晶硅柵極和屏蔽柵極。本發(fā)明可以增大漏源電容Cds,減少開關(guān)震蕩,從而減少器件的電壓震蕩dv/dt失效可能性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種抗dv/dt的SGT器件。
背景技術(shù)
屏蔽柵MOSFET(Shielded Gate Trench MOSFET,縮寫SGT-MOSFET)功率器件在現(xiàn)有技術(shù)中已得到廣泛的應(yīng)用。同時,MOSFET(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)由于其輸入電阻大、易于驅(qū)動、控制簡單、頻率特性高的優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于開關(guān)電源、汽車電子、馬達(dá)驅(qū)動等各種領(lǐng)域。當(dāng)其作為控制能量流通與轉(zhuǎn)換的功率開關(guān)管時,工作在快速開關(guān)轉(zhuǎn)換狀態(tài),面對很高的漏極和源極之間的電壓震蕩dv/dt和電流震蕩di/dt,一方面高的電壓震蕩dv/dt疊加在器件上,容易造成寄生三極管開啟,導(dǎo)致器件失效;另一方面高的電壓震蕩dv/dt疊加在開關(guān)系統(tǒng)中,造成極大的電磁干擾,從而對周圍的元器件和設(shè)備產(chǎn)生嚴(yán)重的電磁污染。
現(xiàn)有的SGT-MOSFET是將屏蔽柵極與源極電位相連,通過降低器件的米勒電容Cgd來提高開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗,這就不可避免地導(dǎo)致了更大的電壓震蕩dv/dt和電流震蕩di/dt,從而增加器件的電壓震蕩dv/dt失效可能性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種抗dv/dt的SGT器件,可以增大漏源電容Cds,減少開關(guān)震蕩,從而減少器件的電壓震蕩dv/dt失效可能性。
為實現(xiàn)上述目的,采用以下技術(shù)方案:
一種抗dv/dt的SGT器件,包括:
第一導(dǎo)電類型的襯底;
第一導(dǎo)電類型的外延層,位于第一導(dǎo)電類型的襯底的上表面;
溝槽,位于第一導(dǎo)電類型的外延層內(nèi),且沿第一導(dǎo)電類型的外延層的厚度方向延伸;
所述溝槽內(nèi)設(shè)有多晶硅柵極和屏蔽柵極;
第一介質(zhì)層,位于屏蔽柵極的底面及側(cè)面、多晶硅柵極的側(cè)面,以及用于隔離多晶硅柵極與屏蔽柵極;
第一導(dǎo)電類型的輕摻雜體區(qū),位于溝槽的底部,且位于屏蔽柵極的下方;
第一導(dǎo)電類型的重?fù)诫s體區(qū),位于屏蔽柵極外圍的第一介質(zhì)層與溝槽的下部側(cè)壁之間,以及位于屏蔽柵極外圍的第一介質(zhì)層與第一導(dǎo)電類型的輕摻雜體區(qū)的上表面之間;
源極金屬,位于第一導(dǎo)電類型的外延層側(cè)面上方,且沿第一導(dǎo)電類型的外延層的厚度方向延伸;
第二介質(zhì)層,位于溝槽的上表面,且沿垂直于溝槽的延伸方向延伸至與源極金屬的側(cè)壁相接觸。
較佳地,所述屏蔽柵極包括一個寬部柵極及若干個窄部柵極,且寬部柵極位于窄部柵極的上方;所述若干個窄部柵極沿垂直于溝槽延伸的方向間隔排布。
較佳地,所述寬部柵極的寬度大于窄部柵極的寬度,且寬部柵極的長度小于窄部柵極的長度。
較佳地,所述寬部柵極、窄部柵極與源極金屬電連接。
較佳地,所述SGT器件還包括:
第二導(dǎo)電類型的體區(qū),位于溝槽的外圍,且位于第一導(dǎo)電類型的外延層的上表面;
所述第二導(dǎo)電類型的體區(qū)中具有相互接觸的第一導(dǎo)電類型的源區(qū)與第二導(dǎo)電類型的重?fù)诫s接觸區(qū)。
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