[發(fā)明專利]三維圖像的幾何校正方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

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• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN114359126A
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設計）人: 榮繁壯;鄭晗;葉超
• 申請（專利權）人: 深圳市安健科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/13;G06T11/00
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 龍丹丹

1.一種三維圖像的幾何校正方法，其特征在于，所述方法包括：

根據預設的幾何參數依次步進調整平板探測器的位置，得到預處理的三維圖像的多個圖像重建層；

根據所述多個圖像重建層對應的偽影強度確定目標幾何參數；

利用所述目標幾何參數校正所述預處理的三維圖像，得到校正后的三維圖像。

2.根據權利要求1所述的三維圖像的幾何校正方法，其特征在于，所述根據預設的幾何參數依次步進調整平板探測器的位置，得到重建后的三維圖像的多個圖像重建層的步驟之前包括：

接收平板探測器上不同角度的待檢測體的X射線掃描數據；

將所述X射線掃描數據依次進行暗校正處理、壞點壞線校正處理及空氣校正處理，得到預處理后的掃描數據；

將所述預校正處理后的掃描數據進行錐角加權處理及濾波三維反投影處理，得到所述三維圖像。

3.根據權利要求1所述的三維圖像的幾何校正方法，其特征在于，所述幾何參數包括幾何參數值域及單位幾何參數，則所述根據預設的幾何參數依次步進調整平板探測器的位置，得到重建后的三維圖像的多個圖像重建層的步驟包括：

獲取預設的所述幾何參數值域及所述單位幾何參數；

將所述平板探測器的位置對應的幾何數值與所述幾何參數值域對比；

若所述平板探測器的位置對應的幾何數值小于所述幾何參數值域，則根據預設的單位幾何參數依次步進調整所述平板探測器的位置；

在調整所述平板探測器的位置后，依次重建所述三維圖像的目標圖像層，得到多個所述圖像重建層。

4.根據權利要求1所述的三維圖像的幾何校正方法，其特征在于，所述根據所述多個圖像重建層對應的偽影強度確定目標幾何參數的步驟包括：

分別提取所述多個圖像重建層對應的圖像特征；

根據多個所述圖像特征確定偽影強度小的圖像重建層為目標圖像重建層；

獲取所述目標圖像重建層對應的目標幾何參數。

5.根據權利要求4所述的三維圖像的幾何校正方法，其特征在于，所述根據多個所述圖像特征確定偽影強度小的圖像重建層為目標圖像重建層的步驟包括：

分別計算多個所述圖像特征的圖像信息熵，所述圖像信息熵的計算公式如下：

P_i,j＝f(i,j)/N²，

其中，i表示所述圖像特征的像素灰度值，j表示所述圖像特征的領域灰度值，f(i,j)表示所述圖像特征的像素總數，N表示所述圖像特征的邊長，P_i,j表示所述圖像特征包含像素的概率；

獲取多個所述圖像信息熵中最大的圖像信息熵；

將所述最大的圖像信息熵對應的所述圖像重建層確定為偽影強度小的所述目標圖像重建層。

6.根據權利要求1一項所述的三維圖像的幾何校正方法，其特征在于，所述利用所述目標幾何參數校正所述預處理的三維圖像，得到校正后的三維圖像的步驟包括：

利用所述目標幾何參數分別計算所述三維圖像的像素索引；

利用所述像素索引對所述預處理的三維圖像內的體素進行加權反投影，得到校正后的三維圖像。

7.一種三維圖像的幾何校正裝置，其特征在于，包括：

調整模塊，用于根據預設的幾何參數依次步進調整平板探測器的位置，得到預處理的三維圖像的多個圖像重建層；

確定模塊，用于根據所述多個圖像重建層對應的偽影強度確定目標幾何參數；

校正模塊，用于利用所述目標幾何參數校正所述預處理的三維圖像，得到校正后的三維圖像。

8.根據權利要求7所述的三維圖像的幾何校正裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

接收模塊，用于接收平板探測器上不同角度的待檢測體的X射線掃描數據；

第一處理模塊，用于將所述X射線掃描數據依次進行暗校正處理、壞點壞線校正處理及空氣校正處理，得到預處理后的掃描數據；

第二處理模塊，用于將所述預校正處理后的掃描數據進行錐角加權處理及濾波三維反投影處理，得到所述三維圖像。