[發(fā)明專利]一種顯示面板的殘像檢測(cè)方法及裝置、顯示設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011045293.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112129489A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 戴佳峰;李榮華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門天馬微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/00 | 分類號(hào): | G01M11/00 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 361101 福建*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 顯示 面板 檢測(cè) 方法 裝置 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種顯示面板的殘像檢測(cè)方法及裝置、顯示設(shè)備。所述顯示面板的殘像檢測(cè)方法包括控制顯示面板顯示預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)的棋盤格畫面,控制顯示面板顯示具有第三灰階的純色畫面,純色畫面包括多個(gè)子純色畫面,子純色畫面包括中間區(qū)和圍繞中間區(qū)的多個(gè)邊緣區(qū);檢測(cè)純色畫面中各邊緣區(qū)的亮度;根據(jù)各邊緣區(qū)的亮度以及邊緣區(qū)殘像量化值計(jì)算公式,計(jì)算獲得各邊緣區(qū)的殘像量化值,根據(jù)各邊緣區(qū)的殘像量化值,確定顯示面板的殘像量化值。本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案,提高了顯示面板殘像量化值的準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種顯示面板的殘像檢測(cè)方法及裝置、顯示設(shè)備。
背景技術(shù)
顯示缺陷檢測(cè)是顯示行業(yè)不可或缺的部分,對(duì)保證顯示面板質(zhì)量以及控制生產(chǎn)成本具有重要意義。顯示缺陷的種類繁多,包括亮度異常點(diǎn)缺陷、亮度異常線缺陷、殘像等,其中,殘像具有形狀不規(guī)則和邊緣模糊等特點(diǎn),難以被準(zhǔn)確檢出。
傳統(tǒng)殘像檢測(cè)采用人工視覺(jué)方式,準(zhǔn)確性較低。為解決上述問(wèn)題,殘像量化已成為目前殘像檢測(cè)的重要方式,但現(xiàn)有技術(shù)中殘像量化結(jié)果與棋盤格畫面之前顯示的初始畫面的亮度穩(wěn)定性,顯示面板本身的亮度均一性,以及計(jì)算中使用的畫面格子數(shù)量等相關(guān),導(dǎo)致最終獲得的殘像量化值的準(zhǔn)確性較差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種顯示面板的殘像檢測(cè)方法及裝置、顯示設(shè)備,以提高殘像量化值的準(zhǔn)確性。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板的殘像檢測(cè)方法,包括:
控制所述顯示面板顯示預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)的棋盤格畫面,所述棋盤格畫面包括多個(gè)呈矩陣排列的子畫面,多個(gè)所述子畫面包括多個(gè)第一子畫面和多個(gè)第二子畫面,所述第一子畫面具有第一灰階,所述第二子畫面具有第二灰階,沿所述矩陣的行方向和列方向,所述第一子畫面和所述第二子畫面交替排列;
控制所述顯示面板顯示具有第三灰階的純色畫面,所述第三灰階處于所述第一灰階和所述第二灰階之間;所述純色畫面包括多個(gè)子純色畫面,所述子純色畫面與所述子畫面一一對(duì)應(yīng),所述子純色畫面和對(duì)應(yīng)所述子畫面采用所述顯示面板的相同區(qū)域內(nèi)的像素進(jìn)行顯示;所述子純色畫面包括中間區(qū)和圍繞所述中間區(qū)的多個(gè)邊緣區(qū);
檢測(cè)所述純色畫面中各所述邊緣區(qū)的亮度;
根據(jù)各所述邊緣區(qū)的亮度以及邊緣區(qū)殘像量化值計(jì)算公式,計(jì)算獲得各所述邊緣區(qū)的殘像量化值,其中,邊緣區(qū)殘像量化值計(jì)算公式為Q=|L1-L2|/[(L1+L2)/2],Q為待計(jì)算邊緣區(qū)的殘像量化值,L1為所述待計(jì)算邊緣區(qū)的亮度,L2為相鄰邊緣區(qū)的亮度,所述待計(jì)算邊緣區(qū)和所述相鄰邊緣區(qū)位于相鄰兩個(gè)所述中間區(qū)之間且具有公共邊;
根據(jù)各所述邊緣區(qū)的殘像量化值,確定所述顯示面板的殘像量化值。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示面板的殘像檢測(cè)裝置,包括:
第一控制顯示模塊,用于控制所述顯示面板顯示預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)的棋盤格畫面,所述棋盤格畫面包括多個(gè)呈矩陣排列的子畫面,多個(gè)所述子畫面包括多個(gè)第一子畫面和多個(gè)第二子畫面,所述第一子畫面具有第一灰階,所述第二子畫面具有第二灰階,沿所述矩陣的行方向和列方向,所述第一子畫面和所述第二子畫面交替排列;
第二控制顯示模塊,用于控制所述顯示面板顯示具有第三灰階的純色畫面,所述第三灰階處于所述第一灰階和所述第二灰階之間;所述純色畫面包括多個(gè)子純色畫面,所述子純色畫面與所述子畫面一一對(duì)應(yīng),所述子純色畫面和對(duì)應(yīng)所述子畫面采用所述顯示面板的相同區(qū)域內(nèi)的像素進(jìn)行顯示;所述子純色畫面包括中間區(qū)和圍繞所述中間區(qū)的多個(gè)邊緣區(qū);
亮度檢測(cè)模塊,用于檢測(cè)所述純色畫面中各所述邊緣區(qū)的亮度;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廈門天馬微電子有限公司,未經(jīng)廈門天馬微電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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