[發明專利]一種顯示面板的殘像檢測方法及裝置、顯示設備

在審

• 申請號: 202011045293.7
• 申請日: 2020-09-28
• 公開（公告）號: CN112129489A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 戴佳峰;李榮華
• 申請（專利權）人: 廈門天馬微電子有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種顯示面板的殘像檢測方法，其特征在于，包括：

控制所述顯示面板顯示預設時長的棋盤格畫面，所述棋盤格畫面包括多個呈矩陣排列的子畫面，多個所述子畫面包括多個第一子畫面和多個第二子畫面，所述第一子畫面具有第一灰階，所述第二子畫面具有第二灰階，沿所述矩陣的行方向和列方向，所述第一子畫面和所述第二子畫面交替排列；

控制所述顯示面板顯示具有第三灰階的純色畫面，所述第三灰階處于所述第一灰階和所述第二灰階之間；所述純色畫面包括多個子純色畫面，所述子純色畫面與所述子畫面一一對應，所述子純色畫面和對應所述子畫面采用所述顯示面板的相同區域內的像素進行顯示；所述子純色畫面包括中間區和圍繞所述中間區的多個邊緣區；

檢測所述純色畫面中各所述邊緣區的亮度；

根據各所述邊緣區的亮度以及邊緣區殘像量化值計算公式，計算獲得各所述邊緣區的殘像量化值，其中，邊緣區殘像量化值計算公式為Q＝|L1-L2|/[(L1+L2)/2]，Q為待計算邊緣區的殘像量化值，L1為所述待計算邊緣區的亮度，L2為相鄰邊緣區的亮度，所述待計算邊緣區和所述相鄰邊緣區位于相鄰兩個所述中間區之間且具有公共邊；

根據各所述邊緣區的殘像量化值，確定所述顯示面板的殘像量化值。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述邊緣區的寬度y與所述顯示面板的像素密度x滿足如下關系式：y＝0.15x-15。

3.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述多個邊緣區包括第一邊緣區、第二邊緣區、第三邊緣區和第四邊緣區；

沿所述矩陣的行方向，所述第一邊緣區和所述第二邊緣區分別位于所述中間區的相對兩側；沿所述矩陣的列方向，所述第三邊緣區和所述第四邊緣區分別位于所述中間區的相對兩側。

4.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，根據各所述邊緣區的殘像量化值，確定所述顯示面板的殘像量化值包括：

提取各所述邊緣區的殘像量化值中的最大值；

將所述最大值作為所述顯示面板的殘像量化值。

5.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，根據各所述邊緣區的殘像量化值，確定所述顯示面板的殘像量化值包括：

計算各所述子純色畫面中所述第一邊緣區的殘像量化值和所述第二邊緣區的殘像量化值的第一均值，以及各所述子純色畫面中的所述第三邊緣區的殘像量化值和所述第四邊緣區的殘像量化值的第二均值；

提取多個所述第一均值和多個所述第二均值中的最大值；

將所述最大值作為所述顯示面板的殘像量化值。

6.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，根據各所述邊緣區的殘像量化值，確定所述顯示面板的殘像量化值包括：

計算各所述子純色畫面中四個所述邊緣區的殘像量化值的均值；

提取多個所述均值中的最大值；

將所述最大值作為所述顯示面板的殘像量化值。

7.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，根據各所述邊緣區的殘像量化值，確定所述顯示面板的殘像量化值之后，還包括：

獲取殘像等級劃分規則；

根據所述顯示面板的殘像量化值以及所述殘像等級劃分規則，確定所述顯示面板的第一殘像等級。

8.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，根據各所述邊緣區的殘像量化值，確定所述顯示面板的殘像量化值之后，還包括：

確定所述顯示面板的殘像量化值對應的至少一個所述邊緣區所在的最小矩形區域的邊界線；

在所述純色畫面中顯示所述邊界線。

9.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，確定所述顯示面板的第一殘像等級之后，還包括：

接收用戶輸入的第二殘像等級；

判斷所述第二殘像等級與所述第一殘像等級是否相同，若是，則在所述純畫面預設位置處顯示殘像等級值。