[發(fā)明專利]一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011039846.8 | 申請日： | 2020-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN112285529A | 公開（公告）日： | 2021-01-29 |
| 發(fā)明（設計）人： | 楊自洪;劉遠華;崔孝葉;季海英;吳一 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R1/20 |
| 代理公司： | 上海海貝律師事務所 31301 | 代理人： | 宋振宇 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)中國（*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 使用 ate 測試 向量 控制 繼電器 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，通過使用ATE設備的數(shù)字IO信號代替relay信號；把relay信號腳都分配到數(shù)字IO端口，在給這些腳的VIH定義為5V，VIL定義為0V；然后在測試pattern的pin腳中也加入這些數(shù)字IO腳，在測試中某個時間點，需要閉合某個繼電器，把這個繼電器的pin在pattern中這個時間點給1，需要斷開繼電器就給0，實現(xiàn)跟隨pattern的測試位置隨意切換繼電器的狀態(tài)。在測試中某個時間點，如果需要閉合某個繼電器，就把這個繼電器的pin在pattern中這個時間點給1，如果需要斷開繼電器就給0，這樣就代替了傳統(tǒng)的relay信號控制繼電器，而且可以跟隨pattern的測試位置隨意切換繼電器的狀態(tài)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明應用于集成電路測試中，是在使用ATE測試設備測pattern的時候，實現(xiàn)測試中多次控制繼電器狀態(tài)的一種方法，更具體地說是一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法。
背景技術(shù)
在集成電路測試中，ATE會向被測試芯片的輸入管腳在不同的時序點發(fā)送一系列的高低電壓，而在芯片的輸出管腳預期的時序點比較輸出的電壓，由此判斷測試芯片是否滿足其功能。在實際測試中，可能會遇到測試中途更換測試線路或者斷開閉合某個元器件，通常這時候會使用繼電器。但是目前的ATE設備在測試pattern的時候，傳統(tǒng)的方法只支持繼電器單次狀態(tài)的切換，對于一些復雜的測試，如果需要多次切換繼電器狀態(tài)就不能滿足。如現(xiàn)有技術(shù)中，使用ATE測試設備的固定方法(以泰瑞達的J750平臺為例)，給每個繼電器分配一個relay信號，如圖1，在測試前對繼電器進行切合或者斷開，如圖2中K13繼電器切合，K1～K10、K12繼電器斷開。此類型技術(shù)在測試pattern的時候只能在測試前對繼電器進行控制，不能滿足更復雜的測試要求，比如在測試中也需要控制繼電器的狀態(tài)改變。
綜上所述，針對現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷，本申請方案提供了一種使用ATE測試設備測pattern的時候，實現(xiàn)可以多次控制繼電器狀態(tài)改變的一種方法，可應用于上述提及的集成電路測試，該方法具有靈活方便、應用廣泛、使用簡單的優(yōu)點。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題而采用的技術(shù)方案是提供一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，滿足部分芯片使用ATE測試pattern的時候，在測試過程中也可以多次對繼電器進行控制，其中，具體技術(shù)方案為：
通過使用ATE設備的數(shù)字IO信號代替relay信號；把relay信號腳都分配到數(shù)字IO端口，在給這些腳的VIH定義為5V，VIL定義為0V；
然后在測試pattern的pin腳中也加入這些數(shù)字IO腳，在測試中某個時間點，需要閉合某個繼電器，把這個繼電器的pin在pattern中這個時間點給1，需要斷開繼電器就給0，實現(xiàn)跟隨pattern的測試位置隨意切換繼電器的狀態(tài)。
上述的一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其中：使用ATE測試設備測pattern的時候，在測試中多次改變繼電器的狀態(tài)。
上述的一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其中：使用ATE測試設備J750給需要控制的繼電器K1～K10、K12、K13分配數(shù)字IO資源，然后給這些數(shù)字IO分一個group，然后再設置VIH為5V，VIL為0V，修改原測試pattern，加入relay的管腳。
上述的一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其中：K2～K10、K12、K13都斷開，K1需要在4～12行的時間點處于閉合狀態(tài)，13到18行處于斷開狀態(tài)，19到24行處于閉合狀態(tài)，25到27行處于斷開狀態(tài)，28到34行閉合狀態(tài)，修改pattern之后，只需要按照J750正常測試功能的方法測試即完成繼電器的控制。
本發(fā)明相對于現(xiàn)有技術(shù)具有如下有益效果：
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