[發(fā)明專利]一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011039846.8 | 申請日： | 2020-09-28 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN112285529A | 公開（公告）日： | 2021-01-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 楊自洪;劉遠(yuǎn)華;崔孝葉;季海英;吳一 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/28 | 分類號(hào)： | G01R31/28;G01R1/20 |
| 代理公司： | 上海海貝律師事務(wù)所 31301 | 代理人： | 宋振宇 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)中國（*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 使用 ate 測試 向量 控制 繼電器 方法 | ||
1.一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其特征在于：通過使用ATE設(shè)備的數(shù)字IO信號(hào)代替relay信號(hào)；把relay信號(hào)腳都分配到數(shù)字IO端口，在給這些腳的VIH定義為5V，VIL定義為0V；
然后在測試pattern的pin腳中也加入這些數(shù)字IO腳，在測試中某個(gè)時(shí)間點(diǎn)，需要閉合某個(gè)繼電器，把這個(gè)繼電器的pin在pattern中這個(gè)時(shí)間點(diǎn)給1，需要斷開繼電器就給0，實(shí)現(xiàn)跟隨pattern的測試位置隨意切換繼電器的狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其特征在于：使用ATE測試設(shè)備測pattern的時(shí)候，在測試中多次改變繼電器的狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求2所述的一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其特征在于：使用ATE測試設(shè)備J750給需要控制的繼電器K1～K10、K12、K13分配數(shù)字IO資源，然后給這些數(shù)字IO分一個(gè)groun，然后再設(shè)置VIH為5V，VIL為0V，修改原測試pattern，加入relay的管腳。
4.如權(quán)利要求3所述的一種使用ATE測試向量控制繼電器的方法，其特征在于：K2～K10、K12、K13都斷開，K1需要在4～12行的時(shí)間點(diǎn)處于閉合狀態(tài)，13到18行處于斷開狀態(tài)，19到24行處于閉合狀態(tài)，25到27行處于斷開狀態(tài)，28到34行閉合狀態(tài)，修改pattern之后，只需要按照J(rèn)750正常測試功能的方法測試即完成繼電器的控制。
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