[發明專利]一種保持時間違例修復方法、系統、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011036592.4
• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN112232005B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 高永亮;邱進超
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F30/3312
• 分類號: G06F30/3312;G06F30/3315
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 李修杰

1.一種保持時間違例修復方法，其特征在于，包括：

通過時序分析找出電路中所有存在保持時間違例的路徑，獲取所述路徑的終止點的建立時間裕量；

計算路徑的建立時間裕量和保持時間違例的比值，根據預定義規則將路徑分為第一類路徑和第二類路徑；

所述預定義規則需要通過對芯片制造廠商工藝庫進行分析獲得，選取合適的建立時間裕量和保持時間違例比值的區間分界點，滿足既能夠保證不影響整個芯片的工作頻率，又能夠把芯片的功耗控制到最低；

使用第一類工藝標準單元迭代修復第一類路徑的保持時間違例；

使用第二類工藝標準單元迭代修復第二類路徑的保持時間違例；

所述第一類工藝的電壓閾值高于第二類工藝；

所述第一類工藝為高閾值電壓工藝或標準閾值電壓工藝；

所述使用第一類工藝標準單元迭代修復第一類路徑的保持時間違例，包括：

31)使用第一類工藝標準單元修復第一類路徑的保持時間違例；

32)計算剩余未修復路徑的建立時間裕量和保持時間違例的比值，根據預定義規則重新劃分路徑分類；

33)判斷剩余未修復路徑中是否存在第一類路徑，若存在，重復步驟31)；

所述第二類工藝為低閾值電壓工藝或超低閾值電壓工藝；

所述使用第二類工藝標準單元迭代修復第二類路徑的保持時間違例，包括：

41)使用第二類工藝標準單元修復第二類路徑的保持時間違例；

42)判斷是否存在未修復路徑，若存在，重復步驟41)。

2.根據權利要求1所述的保持時間違例修復方法，其特征在于，所述計算路徑的建立時間裕量和保持時間違例的比值，根據預定義規則將路徑分為第一類路徑和第二類路徑，包括：

當路徑的建立時間裕量和保持時間違例的比值的絕對值大于1.5且小于3，且建立時間裕量大于15ps時，該路徑為第二類路徑，否則，該路徑為第一類路徑。

3.根據權利要求1所述的保持時間違例修復方法，其特征在于，所述時序分析采用Prime Time工具。

4.一種保持時間違例修復系統，其特征在于，包括：

違例路徑獲取模塊，用于通過時序分析找出電路中所有存在保持時間違例的路徑，獲取所述路徑的終止點的建立時間裕量；

路徑分類模塊，用于計算路徑的建立時間裕量和保持時間違例的比值，根據預定義規則將路徑分為第一類路徑和第二類路徑；

所述預定義規則需要通過對芯片制造廠商工藝庫進行分析獲得，選取合適的建立時間裕量和保持時間違例比值的區間分界點，滿足既能夠保證不影響整個芯片的工作頻率，又能夠把芯片的功耗控制到最低；

第一類路徑修復模塊，用于使用第一類工藝標準單元迭代修復第一類路徑的保持時間違例；

所述第一類工藝為高閾值電壓工藝或標準閾值電壓工藝；

所述使用第一類工藝標準單元迭代修復第一類路徑的保持時間違例，包括：

31)使用第一類工藝標準單元修復第一類路徑的保持時間違例；

32)計算剩余未修復路徑的建立時間裕量和保持時間違例的比值，根據預定義規則重新劃分路徑分類；

33)判斷剩余未修復路徑中是否存在第一類路徑，若存在，重復步驟31)；

第二類路徑修復模塊，用于使用第二類工藝標準單元迭代修復第二類路徑的保持時間違例；

所述第二類工藝為低閾值電壓工藝或超低閾值電壓工藝；

所述使用第二類工藝標準單元迭代修復第二類路徑的保持時間違例，包括：

41)使用第二類工藝標準單元修復第二類路徑的保持時間違例；

42)判斷是否存在未修復路徑，若存在，重復步驟41)；

所述第一類工藝的電壓閾值高于第二類工藝。

5.一種保持時間違例修復的設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至3任一項所述保持時間違例修復的方法的步驟。

6.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至3任一項所述保持時間違例修復的方法的步驟。