[發(fā)明專利]一種利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011036348.8
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN114277116A
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發(fā)明（設計）人: 段志峰
• 申請（專利權）人: 廣州源古紀科技有限公司
• 主分類號: C12Q1/6883
• 分類號: C12Q1/6883;C12Q1/6869;G16B20/50;G16B20/20
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1.一種利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、基因組DNA提取：采用試劑盒及標準DNA提取方法提取基因組DNA；

S2、基因捕獲：基因組DNA經DNA切割儀切割、末端修復、接頭連接、PCR擴增、雜交捕獲；

S3、測序：高通量測序采用Illumina HiSeq平臺進行全外顯子測序；

S4、數(shù)據(jù)分析：分析測序結果，包括測序深度、測序長度、測序總量；

S5、篩選：變異采用軟件進行注釋，使用數(shù)據(jù)庫進行已知或疑似致病突變篩選，并對每個變異進行分類；

S6、檢測結果解讀：選用人類表型標準術語或人類在線孟德爾遺傳數(shù)據(jù)庫術語篩選致病基因。

2.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，所述步驟S1采用的試劑盒為QIAamp DNA Blood Mini Kit 50次提取試劑盒。

3.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S2中雜交捕獲所采用的試劑為xGen Exome Research Panel v1。

4.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S2中基因組DNA經DNA切割儀切割得到的為180-200bp的片段。

5.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S2中PCR擴增條件為：95℃5min；98℃20s，60℃5mim，10～12個循環(huán)；得到的擴增產物4℃保存。

6.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S3測序過程中目標區(qū)域平均測序深度200～220X。

7.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S4所述的數(shù)據(jù)庫為在線孟德爾遺傳數(shù)據(jù)庫和人類基因突變數(shù)據(jù)庫。

8.根據(jù)權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S6之后還包括步驟：用sanger測序對全基因組外顯子測序結果進行驗證。