[發明專利]一種利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法

在審

• 申請號: 202011036348.8
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN114277116A
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 段志峰
• 申請（專利權）人: 廣州源古紀科技有限公司
• 主分類號: C12Q1/6883
• 分類號: C12Q1/6883;C12Q1/6869;G16B20/50;G16B20/20
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1.一種利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、基因組DNA提取：采用試劑盒及標準DNA提取方法提取基因組DNA；

S2、基因捕獲：基因組DNA經DNA切割儀切割、末端修復、接頭連接、PCR擴增、雜交捕獲；

S3、測序：高通量測序采用Illumina HiSeq平臺進行全外顯子測序；

S4、數據分析：分析測序結果，包括測序深度、測序長度、測序總量；

S5、篩選：變異采用軟件進行注釋，使用數據庫進行已知或疑似致病突變篩選，并對每個變異進行分類；

S6、檢測結果解讀：選用人類表型標準術語或人類在線孟德爾遺傳數據庫術語篩選致病基因。

2.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，所述步驟S1采用的試劑盒為QIAamp DNA Blood Mini Kit 50次提取試劑盒。

3.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S2中雜交捕獲所采用的試劑為xGen Exome Research Panel v1。

4.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S2中基因組DNA經DNA切割儀切割得到的為180-200bp的片段。

5.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S2中PCR擴增條件為：95℃5min；98℃20s，60℃5mim，10～12個循環；得到的擴增產物4℃保存。

6.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S3測序過程中目標區域平均測序深度200～220X。

7.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S4所述的數據庫為在線孟德爾遺傳數據庫和人類基因突變數據庫。

8.根據權利要求1所述的利用全外顯子測序檢測單基因遺傳病的方法，其特征在于，步驟S6之后還包括步驟：用sanger測序對全基因組外顯子測序結果進行驗證。