[發明專利]波控測試方法和相關設備

在審

• 申請號: 202011005880.3
• 申請日: 2020-09-23
• 公開（公告）號: CN112130544A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 王偉;趙國華;蔣敏;田義德;羅烜;郭凡玉
• 申請（專利權）人: 成都天銳星通科技有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02;G06F17/11
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 榮穎佳

1.一種波控測試方法，其特征在于，所述方法包括：

依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；

將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果；

接收所述第二測試結果，并將所述第一測試結果和所述第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。

2.根據權利要求1所述的波控測試方法，其特征在于，所述依據測試參數生成第一測試結果的步驟，包括：

將所述測試參數帶入預設的波束控制算法中，計算得到所述第一測試結果。

3.根據權利要求1所述的波控測試方法，其特征在于，所述將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果的步驟，包括：

將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象從所述控制指令中解析出所述測試參數，并將所述測試參數帶入預設的波束控制算法中，計算得到所述第二測試結果。

4.根據權利要求2或3所述的波控測試方法，其特征在于，所述測試參數包括頻率參數、俯仰角參數、旋轉角參數和幅度參數，所述第一測試結果和所述第二測試結果均包括相位測試結果和幅度測試結果；

所述波束控制算法的計算公式包括：

其中，f為所述頻率參數，theta為所述俯仰角參數，phi為所述旋轉角參數，um和vm為角度修正值，xi和yi為陣元坐標值，phasec為相位補償值，phasew為相位加權值，amp0為所述幅度參數，ampcin為幅度補償值，ampwin為幅度加權值，phase為所述相位測試結果，amp為所述幅度測試結果。

5.一種波控測試設備，其特征在于，所述波控測試設備與上位機和被測對象均電連接；

所述波控測試設備用于依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；

所述波控測試設備還用于將所述控制指令發送至所述被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果；

所述波控測試設備還用于接收所述第二測試結果，并將所述第一測試結果和所述第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。

6.根據權利要求5所述的波控測試設備，其特征在于，所述波控測試設備還用于接收所述上位機發送的所述測試參數。

7.根據權利要求5所述的波控測試設備，其特征在于，所述波控測試設備還用于向所述上位機發送工作進度信息。

8.一種上位機，其特征在于，所述上位機通過波控測試設備與被測對象電連接；

所述上位機用于依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；

所述上位機還用于通過所述波控測試設備將所述控制指令發送至所述被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果；

所述上位機還用于通過所述波控測試設備接收所述被測對象產生的所述第二測試結果，并將所述第一測試結果和所述第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。

9.一種波控測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

生成模塊，用于依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；

發送模塊，用于將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果；

接收處理模塊，用于接收所述第二測試結果，并將所述第一測試結果和所述第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-4中任一項所述的波控測試方法。