[發明專利]波控測試方法和相關設備

在審

• 申請號: 202011005880.3
• 申請日: 2020-09-23
• 公開（公告）號: CN112130544A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 王偉;趙國華;蔣敏;田義德;羅烜;郭凡玉
• 申請（專利權）人: 成都天銳星通科技有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02;G06F17/11
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 榮穎佳

本發明實施例提出一種波控測試方法和相關設備，涉及波控測試技術領域。該波控測試方法包括：依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；將控制指令發送至被測對象，以使被測對象依據控制指令生成第二測試結果；接收第二測試結果，并將第一測試結果和第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。本發明實施例提供的波控測試方法和相關設備能夠對被測對象進行全面的波控測試，保障被測對象能夠長期工作穩定性、可靠性以及能夠滿足各種不同場景的應用需求。

技術領域

本發明涉及波控測試技術領域，具體而言，涉及一種波控測試方法和相關設備。

背景技術

傳統的波束控制系統測試方法中，暗室測試是非常重要的一個環節，也是檢驗相控陣天線各項指標、性能以及控制系統是否正常的最終檢驗標準。由于波束控制系統的檢驗一般是通過暗室測試結果中的方向圖等指標來判斷，若方向圖有問題，那么故障原因可能來源于電源系統、饋電鏈路系統、無源陣面以及波束控制系統等各個子系統。故障可能點太多，則會出現排故困難、排故時間長等問題。同時，暗室測試并不能遍歷到所有使用場景、使用方法，所以大概率會出現遺漏，測試并不全面。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種波控測試方法和相關裝置，其能夠對被測對象進行全面的波控測試，保障被測對象能夠長期工作穩定性、可靠性以及能夠滿足各種不同場景的應用需求。

為了實現上述目的，本發明實施例采用的技術方案如下：

第一方面，本發明實施例提供一種波控測試方法，所述方法包括：

依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；

將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果；

接收所述第二測試結果，并將所述第一測試結果和所述第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。

在可選的實施方式中，所述依據測試參數生成第一測試結果的步驟，包括：

將所述測試參數帶入預設的波束控制算法中，計算得到所述第一測試結果。

在可選的實施方式中，所述將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果的步驟，包括：

將所述控制指令發送至被測對象，以使所述被測對象從所述控制指令中解析出所述測試參數，并將所述測試參數帶入預設的波束控制算法中，計算得到所述第二測試結果。

在可選的實施方式中，所述測試參數包括頻率參數、俯仰角參數、旋轉角參數和幅度參數，所述第一測試結果和所述第二測試結果均包括相位測試結果和幅度測試結果；

所述波束控制算法的計算公式包括：

其中，f為所述頻率參數，theta為所述俯仰角參數，phi為所述旋轉角參數，um和vm為角度修正值，xi和yi為陣元坐標值，phasec為相位補償值，phasew為相位加權值，amp0為所述幅度參數，ampcin為幅度補償值，ampwin為幅度加權值，phase為所述相位測試結果，amp為所述幅度測試結果。

第二方面，本發明實施例提供一種波控測試設備，所述波控測試設備與上位機和被測對象均電連接；

所述波控測試設備用于依據測試參數生成控制指令和第一測試結果；

所述波控測試設備還用于將所述控制指令發送至所述被測對象，以使所述被測對象依據所述控制指令生成第二測試結果；

所述波控測試設備還用于接收所述第二測試結果，并將所述第一測試結果和所述第二測試結果進行對比，生成波控測試結果報表。

在可選的實施方式中，所述波控測試設備還用于接收所述上位機發送的所述測試參數。