[發明專利]一種反射率測試裝置及測試方法

在審

• 申請號: 202011002648.4
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN112147107A
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發明（設計）人: 黎勝
• 申請（專利權）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 王永亮

本公開實施例提供了一種反射率測試裝置及測試方法，該測試裝置包括電子設備和遮光罩。所述電子設備內設置有電路板和光學模組，所述光學模組與所述電路板電連接，所述光學模組上設置有發光模塊和接收模塊，所述發光模塊發射的光子和所述接收模塊接收的光子均穿過所述光學模組的第一表面；所述遮光罩包括相對設置的第一開口和第二開口，所述第一開口朝向所述第一表面，所述第二開口朝向被測對象的表面。本公開實施例提供的測試裝置通過內置光學模組，所述光學模組可以發射光子至被測對象的表面以及接收被測對象的表面反射的光子，可以快速、準確測量被測對象的表面反射率，而且該測試裝置具有體積小、結構簡單、成本較低、便于操作的特點。

技術領域

本公開涉及測試設備技術領域，具體地，本公開涉及一種反射率測試裝置及測試方法。

背景技術

反射率為物體反射的輻射能量占總輻射能量的百分比，不同物體的反射率不同。反射率的大小范圍總是小于等于1，利用反射率可以判斷物體的性質，以更好地了解物體的性能參數。

現有的反射率測試裝置可以準確測量被測物體的反射率，而且精度高，光譜范圍寬。但由于傳統反射率測試裝置的價格昂貴，僅適合于大型實驗室使用，這就大大限制了反射率測試裝置的適用范圍。

發明內容

本公開實施例提供一種反射率測試裝置及測試方法，以解決傳統反射率測試裝置價格較高、不便于廣泛應用的問題。

為了解決上述問題，本公開實施例采用下述技術方案：

第一方面，本公開實施例提供了一種反射率測試裝置，包括：

電子設備，所述電子設備內設置有電路板和光學模組，所述光學模組與所述電路板電連接，所述光學模組上設置有發光模塊和接收模塊，所述發光模塊發射的光子和所述接收模塊接收的光子均穿過所述光學模組的第一表面；

遮光罩，所述遮光罩包括相對設置的第一開口和第二開口，所述第一開口朝向所述第一表面，所述第二開口朝向被測對象的表面，所述發光模塊用于發射光子至被測對象的表面，所述接收模塊用于接收被測對象表面反射的光子。

第二方面，本公開實施例提供了一種采用第一方面所述測試裝置的測試方法，包括：

獲得標準部件的反射率為A，所述標準部件接收模塊接收到的光子數為a，所述標準部件表面與所述第一表面的距離為d1；

在被測部件表面朝向第二開口，獲取所述接收模塊接收到的光子數b，其中，所述被測部件表面與所述第一表面的距離為d2，且所述d1與所述d2相等；

計算所述被測部件表面的反射率B；

其中，B＝A*b/a。

本公開實施例采用的技術方案能夠達到以下有益效果：

本公開實施例提供了一種反射率測試裝置，包括電子設備和遮光罩。所述電子設備內設置有電路板和光學模組，所述光學模組與所述電路板電連接，所述光學模組上設置有發光模塊和接收模塊，所述發光模塊發射的光子和所述接收模塊接收的光子均穿過所述光學模組的第一表面；所述遮光罩包括相對設置的第一開口和第二開口，所述第一開口朝向所述第一表面，所述第二開口朝向被測對象的表面。本公開實施例提供的測試裝置通過在電子設備內部設置光學模組，所述光學模組可以發射光子至被測對象的表面以及接收被測對象的表面反射的光子，可以快速、準確測量被測對象的表面反射率，提高了測試裝置的適用性。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本公開的進一步理解，構成本公開的一部分，本公開的示意性實施例及其說明用于解釋本公開，并不構成對本公開的不當限定。在附圖中：

圖1為本公開實施例提供的一種反射率測試裝置結構示意圖；