[發(fā)明專利]一種反射率測試裝置及測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011002648.4
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN112147107A
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黎勝
• 申請（專利權(quán)）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 王永亮

1.一種反射率測試裝置，其特征在于，包括：

電子設(shè)備(1)，所述電子設(shè)備(1)內(nèi)設(shè)置有電路板(2)和光學(xué)模組(3)，所述光學(xué)模組(3)與所述電路板(2)電連接，所述光學(xué)模組(3)上設(shè)置有發(fā)光模塊和接收模塊，所述發(fā)光模塊發(fā)射的光子和所述接收模塊接收的光子均穿過所述光學(xué)模組(3)的第一表面；

遮光罩(5)，所述遮光罩(5)包括相對設(shè)置的第一開口和第二開口，所述第一開口朝向所述第一表面，所述第二開口朝向被測對象的表面，所述發(fā)光模塊用于發(fā)射光子至被測對象的表面，所述接收模塊用于接收被測對象表面反射的光子。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述遮光罩(5)為圓臺結(jié)構(gòu)，所述第一開口設(shè)置于所述遮光罩(5)的上底面，所述第二開口設(shè)置于所述遮光罩(5)的下底面。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述遮光罩(5)的母線與軸線的夾角為γ，所述2γ大于所述發(fā)光模塊的發(fā)射角α。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述發(fā)光模塊的發(fā)射角α和所述接收模塊的接收角β相等。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述遮光罩(5)呈圓柱形，所述第一開口和第二開口分別設(shè)置在圓柱形所述遮光罩(5)的兩端。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述遮光罩(5)的內(nèi)表面設(shè)置有反光涂層。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，還包括透光殼體(4)，所述透光殼體(4)與所述第一表面正對設(shè)置。

8.一種采用權(quán)利要求1-7任意一項所述測試裝置的測試方法，其特征在于，包括：

獲得標(biāo)準(zhǔn)部件的反射率為A，所述標(biāo)準(zhǔn)部件接收模塊接收到的光子數(shù)為a，所述標(biāo)準(zhǔn)部件表面與所述第一表面的距離為d1；

在被測部件表面朝向第二開口，獲取所述接收模塊接收到的光子數(shù)b，其中，所述被測部件表面與所述第一表面的距離為d2，且所述d1與所述d2相等；

計算所述被測部件表面的反射率B；

其中，B＝A*b/a。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)部件表面與所述第一表面平行。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，所述d2的取值范圍為5-20cm。