[發明專利]一種CMOS圖像傳感器的測試裝置

有效

• 申請號: 202011001452.3
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN112083257B
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 丁南南
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01M11/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

本發明公開了一種CMOS圖像傳感器的測試裝置，包括測試母板和多個測試子板；測試母板上設置FPGA主控芯片和LDO芯片以及第一連接器，FPGA主控芯片用于執行預先編輯的測試程序，輸出和待測CMOS圖像傳感器的型號對應的測試信號，測試子板上設置有和第一連接器可插拔連接的第二連接器，以及用于和待測CMOS圖像傳感器相連接的第三連接器；每個第三連接器分別用于和不同型號的待測CMOS圖像傳感器相連接。本申請針對不同型號的CMOS圖像傳感器設置多個不同的測試子板，及FPGA主控芯片中測試程序可現場編程的特性，實現同一個測試母板對多種不同型號的CMOS圖像傳感器的測試，降低了CMOS圖像傳感器的測試成本。

技術領域

本發明涉及圖像傳感器技術領域，特別是涉及一種CMOS圖像傳感器的測試裝置。

背景技術

CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，金屬氧化物半導體)圖像傳感器是成像平臺中重要的電子器件之一，在各種捕捉和測量等機器視覺領域中被廣泛應用。而為了保證CMOS圖像傳感器能夠良好的完成工作任務，就需要對CMOS圖像傳感器的工作性能進行重點關注。

為此，在CMOS圖像傳感器實際應用直接，就需要對CMOS圖像傳感器進行性能測試。主要是通過向CMOS圖像傳感器的感光面發射光照，并為CMOS圖像傳感器提供驅動其工作的測試信號，使得CMOS圖像傳感器感光成像并輸出對應的圖像數據，根據該圖像數據即可判斷出CMOS圖像傳感器的工作性能是否良好。

但是針對不同的任務需求所采用的CMOS圖像傳感器對應的型號、性能參數以及封裝結構各不相同。如果對于每一種型號的CMOS圖像傳感器都設計和開發一套驗證和測試平臺，硬件設計和調試的工作量巨大，并且會增加很多的經濟成本。

發明內容

本發明的目的是提供一種CMOS圖像傳感器的測試裝置，能夠實現多種不同型號的CMOS圖像傳感器的工作性能測試，在一定程度上降低了多種CMOS圖像傳感器測試的經濟成本。

為解決上述技術問題，本發明提供一種CMOS圖像傳感器的測試裝置，包括測試母板和多個測試子板；

所述測試母板上設置FPGA主控芯片和LDO芯片以及第一連接器，其中，所述FPGA主控芯片用于執行預先根據待測CMOS圖像傳感器的型號編輯的測試程序，輸出和所述待測CMOS圖像傳感器的型號對應的測試信號；所述LDO芯片用于為所述待測CMOS圖像傳感器提供工作電壓；

所述測試子板上設置有可和所述第一連接器可插拔連接的第二連接器，以及用于和所述待測CMOS圖像傳感器相連接的第三連接器；其中，各個所述測試子板上的所述第三連接器各不相同，分別用于和不同型號的所述待測CMOS圖像傳感器相連接。

在本申請的一種可選地實施例中，所述LDO芯片為輸出電壓可調的芯片。

在本申請的一種可選地實施例中，所述LDO芯片的數量為多個，各個所述LDO芯片的輸出電壓可調范圍各不相同。

在本申請的一種可選地實施例中，各個所述測試子板的尺寸大小和所述測試子板上的所述第三連接器對應連接的所述待測CMOS圖像傳感器的尺寸大小相配合。

在本申請的一種可選地實施例中，所述FPGA主控芯片包括：

用于執行所述測試程序，輸出所述待測CMOS圖像傳感器對應的驅動信號和配置信號的CMOS驅動模塊；

用于采集所述待測CMOS圖像傳感器輸出的圖像數據的數據緩存模塊；

以及用于輸出所述待測CMOS圖像傳感器測試結果的Camera-link輸出模塊。

在本申請的一種可選地實施例中，所述測試母板上還設置有外部DDR3芯片，所述FPGA主控芯片還包括DDR3緩存模塊；