[發(fā)明專利]一種CMOS圖像傳感器的測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011001452.3 | 申請日： | 2020-09-22 |
| 公開（公告）號： | CN112083257B | 公開（公告）日： | 2021-11-02 |
| 發(fā)明（設計）人： | 丁南南 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛嬌 |
| 地址： | 130033 吉林省長春市*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 cmos 圖像傳感器 測試 裝置 | ||
1.一種CMOS圖像傳感器的測試裝置，其特征在于，包括測試母板和多個測試子板；
所述測試母板上設置FPGA主控芯片和LDO芯片以及第一連接器，其中，所述FPGA主控芯片用于執(zhí)行預先根據(jù)待測CMOS圖像傳感器的型號編輯的測試程序，輸出和所述待測CMOS圖像傳感器的型號對應的測試信號；所述LDO芯片用于為所述待測CMOS圖像傳感器提供工作電壓；
所述測試子板上設置有可和所述第一連接器可插拔連接的第二連接器，以及用于和所述待測CMOS圖像傳感器相連接的第三連接器；其中，各個所述測試子板上的所述第三連接器各不相同，分別用于和不同型號的所述待測CMOS圖像傳感器相連接；
所述LDO芯片為輸出電壓可調(diào)的芯片；
所述LDO芯片的數(shù)量為多個，各個所述LDO芯片的輸出電壓可調(diào)范圍各不相同。
2.如權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器的測試裝置，其特征在于，各個所述測試子板的尺寸大小和所述測試子板上的所述第三連接器對應連接的所述待測CMOS圖像傳感器的尺寸大小相配合。
3.如權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器的測試裝置，其特征在于，所述FPGA主控芯片包括：
用于執(zhí)行所述測試程序，輸出所述待測CMOS圖像傳感器對應的驅(qū)動信號和配置信號的CMOS驅(qū)動模塊；
用于采集所述待測CMOS圖像傳感器輸出的圖像數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)緩存模塊；
以及用于輸出所述待測CMOS圖像傳感器測試結(jié)果的Camera-link輸出模塊。
4.如權(quán)利要求3所述的CMOS圖像傳感器的測試裝置，其特征在于，所述測試母板上還設置有外部DDR3芯片，所述FPGA主控芯片還包括DDR3緩存模塊；
所述DDR3緩存模塊用于連接所述外部DDR3芯片；所述數(shù)據(jù)緩存模塊和所述外部DDR3芯片分別用于對所述待測CMOS圖像傳感器采用global shutter和rolling shutter兩種快門方式采集的圖像數(shù)據(jù)進行緩存。
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