[發(fā)明專利]集成芯片及其形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011000610.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112542542A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾元泰;閔仲?gòu)?qiáng);劉世昌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L43/08 | 分類號(hào): | H01L43/08;H01L43/12;H01L27/22 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李偉 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成 芯片 及其 形成 方法 | ||
1.一種集成芯片,包括:
介電結(jié)構(gòu),設(shè)置在襯底上方;
多層下部互連層,設(shè)置在所述介電結(jié)構(gòu)內(nèi);
存儲(chǔ)器件,包括設(shè)置在底部電極和頂部電極之間的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu),其中,所述底部電極電連接至所述多層下部互連層;以及
側(cè)壁間隔件,從所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)的最外側(cè)壁連續(xù)地延伸至所述底部電極的最外側(cè)壁下方。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成芯片,其中,所述側(cè)壁間隔件從所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)的所述最外側(cè)壁連續(xù)地延伸至所述頂部電極的最外側(cè)壁。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成芯片,其中,所述側(cè)壁間隔件包括與所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)的所述最外側(cè)壁和所述底部電極的所述最外側(cè)壁接觸的內(nèi)側(cè)壁。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成芯片,其中,所述介電結(jié)構(gòu)包括:
多層下部層間介電層,設(shè)置在所述襯底上方并且圍繞所述多層下部互連層;
蝕刻停止層,設(shè)置在所述多層下部層間介電層上方;以及
下部絕緣結(jié)構(gòu),設(shè)置在所述蝕刻停止層上方,其中,所述底部電極從所述下部絕緣結(jié)構(gòu)上方延伸至所述多層下部互連層的一者。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的集成芯片,其中,所述下部絕緣結(jié)構(gòu)在所述底部電極正下方的厚度大于在所述底部電極的橫向外側(cè)的厚度。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的集成芯片,其中,所述側(cè)壁間隔件的所述內(nèi)側(cè)壁還接觸所述下部絕緣結(jié)構(gòu)的側(cè)壁。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的集成芯片,還包括:
頂部電極通孔蝕刻停止層,從所述側(cè)壁間隔件的側(cè)壁連續(xù)地延伸至所述頂部電極的最外側(cè)壁。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的集成芯片,還包括:
第二存儲(chǔ)器件,包括設(shè)置在第二底部電極和第二頂部電極之間的第二數(shù)據(jù)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu),其中,所述頂部電極通孔蝕刻停止層從所述存儲(chǔ)器件的側(cè)壁連續(xù)地延伸至所述第二存儲(chǔ)器件的側(cè)壁。
9.一種集成芯片,包括:
下部層間介電層,設(shè)置在襯底上方;
下部互連層,設(shè)置在所述下部層間介電層內(nèi);
下部絕緣結(jié)構(gòu),設(shè)置在所述下部層間介電層上方;
磁隧道結(jié)器件,包括設(shè)置在底部電極和頂部電極之間的磁隧道結(jié),其中,所述底部電極布置在所述下部互連層上并且延伸穿過(guò)所述下部絕緣結(jié)構(gòu);以及
頂部電極通孔蝕刻停止層,從所述頂部電極的最外側(cè)壁連續(xù)地延伸至所述底部電極的最外側(cè)壁下方。
10.一種形成集成芯片的方法,包括:
在襯底上方的下部層間介電層內(nèi)形成下部互連層;
在所述下部互連層上方形成一個(gè)或者多個(gè)底部電極層;
在所述一個(gè)或者多個(gè)底部電極層上方形成磁隧道結(jié)堆疊件;
在所述磁隧道結(jié)堆疊件上方形成一個(gè)或者多個(gè)頂部電極層;
實(shí)施一個(gè)或者多個(gè)蝕刻工藝,以選擇性地圖案化所述一個(gè)或者多個(gè)頂部電極層、所述磁隧道結(jié)堆疊件、以及所述一個(gè)或者多個(gè)底部電極層,并且限定頂部電極結(jié)構(gòu)、磁隧道結(jié)、以及底部電極;以及
在完成所述一個(gè)或者多個(gè)刻蝕工藝之后,沿著所述磁隧道結(jié)和所述底部電極的最外側(cè)壁形成側(cè)壁間隔件。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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