[發(fā)明專利]一種基于特征屬性的測試策略調(diào)整方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010990018.6 | 申請日: | 2020-09-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112131108A | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 閆義;朱玲芳 | 申請(專利權(quán))人: | 電信科學(xué)技術(shù)第十研究所有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郭永麗 |
| 地址: | 710061*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 特征 屬性 測試 策略 調(diào)整 方法 裝置 | ||
1.一種基于特征屬性的測試策略調(diào)整方法,其特征在于,該方法包括:
獲取被測系統(tǒng)包括的多個(gè)測試子模塊,以及其他測試過程中發(fā)現(xiàn)的多個(gè)缺陷;
獲取各所述缺陷的特征屬性,所述特征屬性包括缺陷所屬測試子模塊和缺陷等級(jí),并確定各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級(jí)值;
根據(jù)各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級(jí)值,計(jì)算各所述測試子模塊的測試預(yù)測值;
根據(jù)各所述測試子模塊的測試預(yù)測值,對(duì)所述被測系統(tǒng)的測試策略進(jìn)行調(diào)整。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級(jí)值,計(jì)算各所述測試子模塊的測試預(yù)測值包括:
根據(jù)各所述缺陷的特征屬性,分別獲取各所述測試子模塊包括的所有缺陷;
將各所述測試子模塊包括的所有缺陷的特征屬性代入建立好的缺陷模型中,并根據(jù)下述公式計(jì)算各所述測試子模塊的測試預(yù)測值:
其中,Mi為被測系統(tǒng)M中包括的第i個(gè)測試子模塊,i=1、2、3……N,N為測試子模塊的總數(shù)量,K為測試子模塊Mi中包括的所有缺陷的總數(shù)量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)各所述測試子模塊的測試預(yù)測值,對(duì)所述被測系統(tǒng)的測試策略進(jìn)行調(diào)整包括:
按照各所述測試子模塊的測試預(yù)測值從高到低的順序,對(duì)所述測試子模塊進(jìn)行排序;
根據(jù)排序后的所述測試子模塊,對(duì)所述被測系統(tǒng)的測試策略進(jìn)行調(diào)整。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷等級(jí)包括高缺陷等級(jí)、中缺陷等級(jí)和低缺陷等級(jí)。
5.一種基于特征屬性的測試策略調(diào)整裝置,其特征在于,該裝置包括:
第一獲取單元,用于獲取被測系統(tǒng)包括的多個(gè)測試子模塊,以及其他測試過程中發(fā)現(xiàn)的多個(gè)缺陷;
第二獲取單元,用于獲取各所述缺陷的特征屬性,所述特征屬性包括缺陷所屬測試子模塊和缺陷等級(jí),并確定各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級(jí)值;
計(jì)算單元,用于根據(jù)各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級(jí)值,計(jì)算各所述測試子模塊的測試預(yù)測值;
調(diào)整單元,用于根據(jù)各所述測試子模塊的測試預(yù)測值,對(duì)所述被測系統(tǒng)的測試策略進(jìn)行調(diào)整。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,根據(jù)各所述缺陷的特征屬性,分別獲取各所述測試子模塊包括的所有缺陷;
將各所述測試子模塊包括的所有缺陷的特征屬性代入建立好的缺陷模型中,并根據(jù)下述公式計(jì)算各所述測試子模塊的測試預(yù)測值:
其中,Mi為被測系統(tǒng)M中包括的第i個(gè)測試子模塊,i=1、2、3……N,N為測試子模塊的總數(shù)量,K為測試子模塊Mi中包括的所有缺陷的總數(shù)量。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述調(diào)整單元具體用于:
按照各所述測試子模塊的測試預(yù)測值從高到低的順序,對(duì)所述測試子模塊進(jìn)行排序;
根據(jù)排序后的所述測試子模塊,對(duì)所述被測系統(tǒng)的測試策略進(jìn)行調(diào)整。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述缺陷等級(jí)包括高缺陷等級(jí)、中缺陷等級(jí)和低缺陷等級(jí)。
9.一種計(jì)算設(shè)備,其特征在于,包括處理器和存儲(chǔ)器,其中存儲(chǔ)器內(nèi)存儲(chǔ)有執(zhí)行指令,處理器讀取存儲(chǔ)器內(nèi)的執(zhí)行指令用于執(zhí)行如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的一種基于特征屬性的測試策略調(diào)整方法中的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,包含計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令,所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令被用于執(zhí)行如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的一種基于特征屬性的測試策略調(diào)整方法中的步驟。
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