[發明專利]一種基于特征屬性的測試策略調整方法及裝置

在審

• 申請號: 202010990018.6
• 申請日: 2020-09-18
• 公開（公告）號: CN112131108A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 閆義;朱玲芳
• 申請（專利權）人: 電信科學技術第十研究所有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郭永麗

本發明公開了一種基于特征屬性的測試策略調整方法及裝置，該方法包括：獲取被測系統包括的多個測試子模塊，以及其他測試過程中發現的多個缺陷；獲取各缺陷的特征屬性，特征屬性包括缺陷所屬測試子模塊和缺陷等級，并確定各測試子模塊的重要性值以及各缺陷的缺陷等級值；根據各測試子模塊的重要性值以及各缺陷的缺陷等級值，計算各測試子模塊的測試預測值；根據各測試子模塊的測試預測值，對被測系統的測試策略進行調整。本發明便于測試人員科學有效地進行測試策略的調整，從而有效解決了現有技術中主要依據測試人員的經驗來發現被測系統中的缺陷，從而影響測試過程中發現的缺陷數量與缺陷質量使得無法科學有效地實時調整測試策略的問題。

技術領域

本發明涉及計算機測試技術領域，具體涉及一種基于特征屬性的測試策略調整方法及裝置。

背景技術

軟件測試是軟件開發過程不可或缺的階段，而測試策略是做好整個測試的首要條件。目前，如何高效發現被測系統中的缺陷，主要依據測試人員的經驗，即對被測系統測試的覆蓋深度和廣度的初始認知。

然而，目前系統規模大，且日趨復雜，開發周期短，測試時間也更為緊張，測試資源受限，將直接影響系統測試過程中發現的缺陷數量與缺陷質量。此外，相同項目產品的多版本測試，重復率較高，測試思維定式也會造成無法有效地發現被測系統的潛在缺陷。

因此，如何在有限的時間內發現被測系統更多的缺陷，是測試領域追求的目標，故需要一種科學的測試策略調整方法，能夠在有限的時間范圍內利用有限的測試資源來發現被測系統中更多的缺陷，以滿足測試需求。

需要注意的是，本部分旨在為權利要求書中陳述的本公開的實施方式提供背景或上下文。此處的描述不因為包括在本部分中就承認是現有技術。

發明內容

本發明實施例提供一種基于特征屬性的測試策略調整方法及裝置，以解決現有技術中主要依據測試人員的經驗來發現被測系統中的缺陷，從而影響測試過程中發現的缺陷數量與缺陷質量，使得無法科學有效地實時調整測試策略的問題。

第一方面，本發明實施例提供一種基于特征屬性的測試策略調整方法，該方法包括：

獲取被測系統包括的多個測試子模塊，以及其他測試過程中發現的多個缺陷；

獲取各所述缺陷的特征屬性，所述特征屬性包括缺陷所屬測試子模塊和缺陷等級，并確定各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級值；

根據各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級值，計算各所述測試子模塊的測試預測值；

根據各所述測試子模塊的測試預測值，對所述被測系統的測試策略進行調整。

作為本發明第一方面的優選方式，所述根據各所述測試子模塊的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等級值，計算各所述測試子模塊的測試預測值包括：

根據各所述缺陷的特征屬性，分別獲取各所述測試子模塊包括的所有缺陷；

將各所述測試子模塊包括的所有缺陷的特征屬性代入建立好的缺陷模型中，并根據下述公式計算各所述測試子模塊的測試預測值：

其中，M_i為被測系統M中包括的第i個測試子模塊，i＝1、2、3……N，N為測試子模塊的總數量，K為測試子模塊M_i中包括的所有缺陷的總數量。

作為本發明第一方面的優選方式，所述根據各所述測試子模塊的測試預測值，對所述被測系統的測試策略進行調整包括：

按照各所述測試子模塊的測試預測值從高到低的順序，對所述測試子模塊進行排序；

根據排序后的所述測試子模塊，對所述被測系統的測試策略進行調整。