[發明專利]一種沖壓框架協同檢測系統及其檢測方法

在審

• 申請號: 202010989836.4
• 申請日: 2020-09-19
• 公開（公告）號: CN112102301A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 謝昌鋒;孫博良;涂丹;肖波;王威;龍志斌;肖賢軍;朱為;謝偉強
• 申請（專利權）人: 深圳市睿陽精視科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/70;G06T7/30;G01N21/88
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1.一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于：包括用戶管理模塊、產品編輯管理模塊、自動檢測模塊、數據統計模塊及軟件設置模塊，其中，上述用戶管理模塊管理劃責賬戶類型和賬戶數量，賬戶類型包括管理員賬戶、工程師賬戶及操作員賬戶；上述產品管理模塊包括新建產品子模塊及產品檢測功能編輯子模塊，以便新建和存儲標準產品及檢測參數，并通過自動檢測模塊比對標準產品與待檢產品，完成檢測；上述數據統計模塊包括數據庫數據參看子模塊和數據庫數據修改子模塊；上述軟件設置模塊包括NG報警策略子模塊及存儲位置選擇子模塊；新建產品子模塊根據待檢產品輸入預先拍攝的良品圖像作為檢測參照圖像，檢測功能編輯子模塊進行待檢產品的區域設置；自動檢測模塊利用定位區域確認參照圖像與待檢圖像之間的位置、角度或縮放區別，并通過仿射變換進行圖像矯正，將待檢圖像調整至與參照圖像重疊位置后，通過區域分析方法對待檢圖像進行差異分析，得出待檢產品為良品或不良品的結論。

2.根據權利要求1所述的一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于：所述的檢測功能編輯子模塊包括測量程序區域設置，測量程序區域設置包括ROI待檢區域設置、定位區域設置、基礎檢測區域設置及忽略區域設置，ROI待檢區域設置確定產品上整體的ROI區域，定位區域位于ROI區域內，定位區域為輔助待檢產品進行圖像矯正的定點位置；基礎檢測區域設置位于ROI區域內，基礎檢測區域為該類待檢產品需檢測區域；忽略區域位于ROI區域內，忽略區域為該類待檢產品無需檢測的區域。

3.根據權利要求2所述的一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于：所述的待檢圖像與參照圖像之間存在旋轉、平移及縮放差異，通過仿射變換矩陣對待檢圖像進行矯正。

4.一種如權利要求1所述的沖壓框架協同檢測方法，其特征在于，包括以下工藝步驟：

S1、拍攝選定參照圖像：拍攝各參數達標的產品，作為檢測的參照圖像，并上傳系統；

S2、產品及檢測參數設置：步驟S1中參照圖像上傳后，通過產品編輯管理模塊將該參照圖像作為新產品新建入系統，且根據產品待檢要求設置ROI待檢區域、定位區域、基礎檢測區域及忽略區域；

S3、拍攝待檢產品圖像：通過多相機拍攝沖壓生產過程中向前直線傳送的待檢測產品，得到待檢產品圖像；

S4、圖像矯正：步驟S2中，產品及檢測參數設置好后，根據定位區域采用仿射變換矩陣對步驟S3中拍攝到的待檢產品圖像進行位置矯正，使待檢產品圖像與參照圖像在系統內重疊；

S5、圖像檢測：步驟S4中圖像矯正后，通過減背景法或絕對閾值法相比參照圖像對待檢產品圖像進行差異檢測，得出瑕疵檢測結果；

S6、返回瑕疵檢測結果：步驟S5中圖像檢測完成后，通過區域分析判定檢測差異大小，通過差異大小界定檢測產品是否為良品或不良品。

5.根據權利要求4所述的一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于：所述的待檢產品圖像與參照圖像之間存在旋轉、平移及縮放差異，通過仿射變換矩陣對待檢圖像進行矯正。

6.根據權利要求5所述的一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于，所述的圖像矯正包括以下工藝步驟：

A、粗定位：采用基于灰度的模板匹配方法，根據參照圖像上選擇的定位區域，在待檢測產品圖像上找到相應的區域；

B、精定位：在粗定位的基礎上，找到定位區域中的配準點（包括孔的圓心、矩形中心等），通過最小二乘法獲得仿射變換矩陣，利用仿射變換矩陣將待檢測產品圖像和參照圖像進行配準。

7.根據權利要求6所述的一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于：所述的基于灰度的模板匹配方法包括MAD算法、SAD算法、SSD算法、MSD算法、NCC算法、SSDA算法及SATD算法。

8.根據權利要求9所述的一種沖壓框架協同檢測系統，其特征在于：所述的區域分析采用Blob分析方法。