[發明專利]OLED陰極電壓的校正方法及系統、顯示模組、亮度調整方法

在審

• 申請號: 202010982450.0
• 申請日: 2020-09-17
• 公開（公告）號: CN112071266A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 吳寶云;郭澤邦;趙輝
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225;G09G5/10;G01M11/02
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 付生輝

本發明公開了一種OLED陰極電壓的校正方法及系統、顯示模組、亮度調整方法、計算機可讀存儲介質以及計算機設備。校正方法包括：控制器按照一個亮度等級向待測顯示模組發送圖像測試信號和陰極測試電壓；控制器發送測試指令以獲取測量參數并根據測量參數判斷待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值并輸出判斷結果；控制器根據判斷結果漸進式調整陰極測試電壓，直至獲得待測顯示模組在當前亮度等級的陰極校正電壓，并使得待測顯示模組存儲亮度等級和對應于陰極校正電壓的電壓參數。本發明提供的實施例通過針對每個亮度等級根據測量參數確定判斷結果，并根據判斷結果漸進式調整陰極測試電壓，從而確定每個亮度等級的陰極校正電壓并存儲，提高產品便捷性。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種OLED陰極電壓的校正方法及系統、顯示模組、亮度調整方法、計算機可讀存儲介質以及計算機設備。

背景技術

OLED顯示模組產品在應用過程中，為了達到降低功耗的目的，越來越多的開始采用動態陰極電壓(ELVSS)方案。ELVSS作為OLED產品工作時的陰極電壓，數值通常為負值。當ELVSS電壓越小時，OLED產品工作時的跨壓越大，此時顯示效果越好，但是也帶來了功耗過高的問題。當ELVSS越大時，OLED產品工作時的跨壓減小，功耗隨之降低，但是此時OLED產品中的TFT器件有未工作在飽和區的風險，可能會帶來畫面顯示偏黃，偏綠等顯示異常問題。

現有技術所應用的動態ELVSS方案，選取的方式通常都是預先設定一組ELVSS參數，以此參數作為所有產品的統一值。但是在前期設計驗證階段，由于樣品數量有限等問題，經常會導致預先設定值不合理，無法達到預期的功耗降低的效果，嚴重時還會導致顯示效果變差，甚至異常。同時，這種預設值的方式，要求后續主機(例如手機或者平板電腦等終端的CPU)在應用OLED產品時，要根據用戶的不同設定，隨時向OLED產品傳遞不同的ELVSS參數，造成主機端軟件工作量大，通用性低。

此外，由于OLED產品制作過程中的工藝波動，產品個體間會存在一定的差異。工藝波動越明顯，個體間的差異越大，統一的預設參數就會造成部分的產品良率損失。

發明內容

為了解決上述問題至少之一，本申請第一方面提供一種OLED陰極電壓的校正方法，包括：S11：控制器按照一個亮度等級向待測顯示模組發送圖像測試信號和陰極測試電壓，陰極測試電壓為預設置的陰極電壓閾值；S12：控制器向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數，并根據測量參數判斷待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值并輸出判斷結果，測量參數為光學測量單元測量待測顯示模組輸出的測量參數；S13：控制器根據判斷結果漸進式調整陰極測試電壓并發送至待測顯示模組，直至獲得待測顯示模組在當前亮度等級的陰極校正電壓，并使得待測顯示模組存儲亮度等級和對應于陰極校正電壓的電壓參數；S14：判斷是否還有未校正的亮度等級，若有則調整亮度等級并跳轉到S11。

在一些可選的實施例中，S12進一步包括：S121：控制器按照預設調試時間向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數；S122：控制器根據測量參數進行判斷，若測量參數滿足預設顯示閾值則控制器輸出第一判斷結果，否則控制器輸出第二判斷結果。

在一些可選的實施例中，若判斷結果為第一判斷結果，S13進一步包括：S131：控制器以預設步進調整電壓反向調整陰極測試電壓為第一陰極測試電壓并發送至待測顯示模組；S132：控制器向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數，并根據測量參數判斷待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值，若滿足則將陰極測試電壓修改為第一陰極測試電壓并跳轉至S131，否則將陰極測試電壓作為當前亮度等級的陰極校正電壓；S133：控制器將陰極校正電壓發送至待測顯示模組，使得待測顯示模組存儲亮度等級和對應于陰極校正電壓的電壓參數。