[發明專利]OLED陰極電壓的校正方法及系統、顯示模組、亮度調整方法

在審

• 申請號: 202010982450.0
• 申請日: 2020-09-17
• 公開（公告）號: CN112071266A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 吳寶云;郭澤邦;趙輝
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225;G09G5/10;G01M11/02
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 付生輝

1.一種OLED陰極電壓的校正方法，其特征在于，包括：

S11：控制器按照一個亮度等級向待測顯示模組發送圖像測試信號和陰極測試電壓，所述陰極測試電壓為預設置的陰極電壓閾值；

S12：所述控制器向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數，并根據所述測量參數判斷所述待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值并輸出判斷結果，所述測量參數為所述光學測量單元測量所述待測顯示模組輸出的測量參數；

S13：所述控制器根據所述判斷結果漸進式調整所述陰極測試電壓并發送至所述待測顯示模組，直至獲得所述待測顯示模組在當前亮度等級的陰極校正電壓，并使得所述待測顯示模組存儲所述亮度等級和對應于所述陰極校正電壓的電壓參數；

S14：判斷是否還有未校正的亮度等級，若有則調整亮度等級并跳轉到S11。

2.根據權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述S12進一步包括：

S121：所述控制器按照預設調試時間向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數；

S122：所述控制器根據所述測量參數進行判斷，若所述測量參數滿足預設顯示閾值則所述控制器輸出第一判斷結果，否則所述控制器輸出第二判斷結果。

3.根據權利要求2所述的校正方法，其特征在于，若所述判斷結果為第一判斷結果，所述S13進一步包括：

S131：所述控制器以預設步進調整電壓反向調整所述陰極測試電壓為第一陰極測試電壓并發送至所述待測顯示模組；

S132：所述控制器向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數，并根據所述測量參數判斷所述待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值，若滿足則將所述陰極測試電壓修改為所述第一陰極測試電壓并跳轉至S131，否則將所述陰極測試電壓作為當前亮度等級的陰極校正電壓；

S133：所述控制器將所述陰極校正電壓發送至所述待測顯示模組，使得所述待測顯示模組存儲所述亮度等級和對應于所述陰極校正電壓的電壓參數。

4.根據權利要求2所述的校正方法，其特征在于，若所述判斷結果為第二判斷結果，所述S13進一步包括：

S131′：所述控制器以預設步進調整電壓正向調整所述陰極測試電壓為第二陰極測試電壓并發送至所述待測顯示模組；

S132′：所述控制器向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數，并根據所述測量參數判斷所述待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值，若不滿足則將所述陰極測試電壓修改為所述第二陰極測試電壓并跳轉至S131′，否則將所述第二陰極測試電壓作為當前亮度等級的陰極校正電壓；

S133′：所述控制器將所述陰極校正電壓發送至所述待測顯示模組，使得所述待測顯示模組存儲所述亮度等級和對應于所述陰極校正電壓的電壓參數。

5.一種OLED陰極電壓的校正系統，其特征在于，包括控制器和光學測量單元，其中：

所述光學測量單元，被配置為響應于所述控制器的測試指令測量待測顯示模組并輸出測量參數；

所述控制器，被配置為校正各亮度等級的陰極校正電壓，包括：按照一個亮度等級向待測顯示模組發送圖像測試信號和陰極測試電壓，向光學測量單元發送測試指令以獲取測量參數，并根據所述測量參數判斷所述待測顯示模組是否滿足預設顯示閾值并輸出判斷結果，根據所述判斷結果漸進式調整所述陰極測試電壓并發送至所述待測顯示模組，直至獲得所述待測顯示模組在當前亮度等級的陰極校正電壓，并使得所述待測顯示模組存儲所述亮度等級和對應于所述陰極校正電壓的電壓參數。

6.一種通過權利要求1-4中任一項所述的校正方法校正的顯示模組，其特征在于，所述顯示模組包括驅動芯片、電源芯片和OLED顯示面板，所述驅動芯片存儲有各亮度等級和對應的電壓參數；

所述驅動芯片被配置為響應于輸入的亮度調整指令確定亮度等級并輸出所述亮度等級對應的電壓參數至所述電源芯片，以使得所述電源芯片根據所述電壓參數輸出對應的陰極校正電壓并加載至所述OLED顯示面板。