[發明專利]一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置及方法

在審

• 申請號: 202010979928.4
• 申請日: 2020-09-17
• 公開（公告）號: CN111947850A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 胡志強;武興華;王曉宇;廖洪彬;秦超
• 申請（專利權）人: 核工業西南物理研究院
• 主分類號: G01M3/22
• 分類號: G01M3/22
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 張超

本發明公開了一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置及方法，該雙層管氦檢漏工裝通過將內管套在外管內，內管通過第一密封件與密封法蘭箱的第一端密封連接，外管通過第二密封件與密封法蘭箱的第二端連接，第一端的直徑小于第二端的直徑；內管的一端采用第一堵板封堵，內管的另一端采用第二堵板封堵；第一堵板上設置有氦氣通入孔；外管外設置有充氣罩，充氣罩上設置有氦氣通入孔，結構簡單、拆裝方便且可以實現雙層管內層和夾層氣密性測試，檢漏精度高、檢測效率高且成本低，同時可實現整體測試，滿足帶夾層的雙層管檢漏要求。

技術領域

本發明涉及氦氣密性檢測技術領域，具體涉及一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置及方法，主要用于對聚變堆產氚包層雙層管路進行氦檢漏。

背景技術

國際熱核實驗反應堆(ITER)氦冷固態產氚包層(HCCB TBS)雙層管路連接產氚包層(TBM)本體模塊和屏蔽塊(Shield)，并貫穿整個屏蔽塊，起氚提取、氦冷循環等功能。雙層管為π型結構，長度為1839mm，外管直徑Ф114.3mm，外管外壁要承受4MPa外壓，雙層管夾層為真空邊界，內管直徑Ф73mm，內壁承受8MPa高溫內壓。按照設計要求需要對雙層管進行氣密性檢測。現有的氣密性檢測工裝一般用于單層管結構，檢測結構受限，不容易實現雙層管內層和夾層氣密性測試，且裝配復雜，效率低下，成本高。

發明內容

本發明需要解決的技術問題是現有的氣密性檢測工裝一般用于單層管結構，檢測結構受限，不容易實現雙層管內層和夾層氣密性測試，且裝配復雜，效率低下，成本高。因此，本發明提供一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置及方法，其結構簡單，容易實現雙層管內管和夾層氣密性測試，拆裝方便，不受結構限制，效率高，成本低，且滿足雙層管氦氣氣密性檢測的真空要求，實現雙層管的整體測試。

本發明通過下述技術方案實現：

為解決上述技術問題，本發明通過下述技術方案實現：

一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，包括內管、外管和氦檢漏工裝，所述氦檢漏工裝包括第一密封件、第二密封件、第一堵板、第二堵板、充氣罩和密封法蘭箱；

所述內管套在所述外管內，所述內管通過第一密封件與所述密封法蘭箱的第一端密封連接，所述外管通過第二密封件與所述密封法蘭箱的第二端連接，所述第一端的直徑小于所述第二端的直徑；所述內管的一端采用第一堵板封堵，所述內管的另一端采用第二堵板封堵；所述第一堵板上設置有氦氣通入孔；所述外管外設置有充氣罩，所述充氣罩上設置有氦氣通入孔。

進一步地，所述第一密封件包括第一蓋板和第一O型密封圈；

所述第一蓋板上設置有凸臺，所述密封法蘭箱上設置有與所述凸臺匹配的凹槽，所述凸臺與所述凹槽通過第一O型密封圈端面密封所述內管的外壁。

進一步地，所述第一蓋板與所述密封法蘭箱的第一端通過螺栓連接。

進一步地，所述第二密封件包括第二蓋板和第二O型密封圈；

所述第二蓋板上設置有凸臺，所述密封法蘭箱上設置有與所述凸臺匹配的凹槽，所述凸臺與所述凹槽通過第二O型密封圈端面密封所述外管的外壁。

進一步地，所述第二蓋板與所述密封法蘭箱的第二端通過螺栓連接。

進一步地，所述第一O型密封圈和所述第二O型密封圈由橡膠制成。

進一步地，所述第一堵板和第二堵板由塑料制成。

進一步地，所述充氣罩由塑料薄膜制成。

進一步地，所述密封法蘭箱上設置有接管口，用于連接氦質譜儀。

一種基于上述一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置的氦檢漏方法，包括：

通過第一堵板上設置的氦氣通入孔對內管通入氦氣，并通過密封法蘭箱上連接的氦質譜儀檢測所述內管的氣密性；