[發明專利]一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置及方法

在審

• 申請號: 202010979928.4
• 申請日: 2020-09-17
• 公開（公告）號: CN111947850A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 胡志強;武興華;王曉宇;廖洪彬;秦超
• 申請（專利權）人: 核工業西南物理研究院
• 主分類號: G01M3/22
• 分類號: G01M3/22
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 張超

1.一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，包括內管、外管和氦檢漏工裝，所述氦檢漏工裝包括第一密封件、第二密封件、第一堵板(4)、第二堵板(9)、充氣罩(8)和密封法蘭箱(2)；

所述內管套在所述外管內，所述內管通過第一密封件與所述密封法蘭箱(2)的第一端密封連接，所述外管通過第二密封件與所述密封法蘭箱(2)的第二端連接，所述第一端的直徑小于所述第二端的直徑；所述內管的一端采用第一堵板(4)封堵，所述內管的另一端采用第二堵板(9)封堵；所述第一堵板(4)上設置有氦氣通入孔；所述外管外設置有充氣罩(8)，所述充氣罩(8)上設置有氦氣通入孔。

2.根據權利要求1所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述第一密封件包括第一蓋板(6)和第一O型密封圈(5)；

所述第一蓋板(6)上設置有凸臺，所述密封法蘭箱(2)上設置有與所述凸臺匹配的凹槽，所述凸臺與所述凹槽通過第一O型密封圈(5)端面密封所述內管的外壁。

3.根據權利要求2所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述第一蓋板(6)與所述密封法蘭箱(2)的第一端通過螺栓(3)連接。

4.根據權利要求1所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述第二密封件包括第二蓋板(7)和第二O型密封圈(1)；

所述第二蓋板(7)上設置有凸臺，所述密封法蘭箱(2)上設置有與所述凸臺匹配的凹槽，所述凸臺與所述凹槽通過第二O型密封圈(1)端面密封所述外管的外壁。

5.根據權利要求4所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述第二蓋板(7)與所述密封法蘭箱(2)的第二端通過螺栓(3)連接。

6.根據權利要求2或4所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述第一O型密封圈(5)和所述第二O型密封圈(1)由橡膠制成。

7.根據權利要求1所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述第一堵板(4)和第二堵板(9)由塑料制成。

8.根據權利要求1所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述充氣罩(8)由塑料薄膜制成。

9.根據權利要求1所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置，其特征在于，所述密封法蘭箱(2)上設置有接管口，用于連接氦質譜儀。

10.一種基于權利要求1-9任一項所述的一種帶夾層的雙層管氦檢漏裝置的氦檢漏方法，包括：

通過第一堵板(4)上設置的氦氣通入孔對內管通入氦氣，并通過密封法蘭箱(2)上連接的氦質譜儀檢測所述內管的氣密性；

通過充氣罩(8)上設置的氦氣通入孔對外管通入氦氣；并通過密封法蘭箱(2)上連接的氦質譜儀檢測所述外管的氣密性。