[發(fā)明專利]一種超薄單層陶瓷電容器基片吸真空工裝及制造工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010974977.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111958482A | 公開(公告)日: | 2020-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉溪筆;劉云志;楊國(guó)興;吳繼偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 大連達(dá)利凱普科技股份公司 |
| 主分類號(hào): | B24B37/28 | 分類號(hào): | B24B37/28;B24B37/30;B24B1/00;H01G13/00;H01G4/12 |
| 代理公司: | 大連智高專利事務(wù)所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人: | 畢進(jìn) |
| 地址: | 116630 遼寧省大連*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 超薄 單層 陶瓷 電容器 基片吸 真空 工裝 制造 工藝 | ||
1.一種超薄單層陶瓷電容器基片吸真空工裝,其特征在于,包括:透氣鋼(1)、密封圈(2)、凸臺(tái)(3)、吸真空口(4),所述凸臺(tái)(3)為四周封閉的中空結(jié)構(gòu),所述凸臺(tái)(3)上表面開有若干用于放置基片(5)的區(qū)域,所述透氣鋼(1)設(shè)置在所述區(qū)域中,所述透氣鋼(1)四周設(shè)置所述密封圈(2),所述凸臺(tái)(3)下表面設(shè)置所述吸真空口(4)。
2.如權(quán)利要求1所述的超薄單層陶瓷電容器基片吸真空工裝,其特征在于,所述密封圈(2)為橡膠圈。
3.如權(quán)利要求1所述的超薄單層陶瓷電容器基片吸真空工裝,其特征在于,所述區(qū)域的數(shù)量為8-10。
4.如權(quán)利要求1所述的超薄單層陶瓷電容器基片吸真空工裝,其特征在于,還包括吸真空管路和真空機(jī),所述吸真空口(4)通過(guò)所述吸真空管路與所述真空機(jī)連接。
5.如權(quán)利要求3所述的超薄單層陶瓷電容器基片吸真空工裝,其特征在于,所述區(qū)域沿所述凸臺(tái)(3)邊緣呈環(huán)形分布。
6.一種超薄單層陶瓷電容器基片制造工藝,其特征在于,步驟如下:
S1、雙面研磨:采用一次性樹脂游輪工裝對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行預(yù)處理,使基片從0受力到全面受力均勻逐步進(jìn)行,將燒結(jié)后基片表面的雜質(zhì)、凹坑、凸起去除,使產(chǎn)品平整厚度一致;
S2、正面減薄:采用具有光柵控制系統(tǒng)的減薄機(jī)與專用吸真空工裝匹配對(duì)基片正面進(jìn)行減薄;
S3、正面研磨:通過(guò)專用吸真空工裝匹配,采用單面研磨機(jī)對(duì)基片正面進(jìn)行研磨;
S4、正面拋光:通過(guò)專用吸真空工裝匹配,采用單面拋光機(jī)對(duì)基片正面進(jìn)行拋光;
S5、反面減薄:采用具有光柵控制系統(tǒng)的減薄機(jī)與專用吸真空工裝匹配對(duì)基片反面進(jìn)行減薄;
S6、反面研磨:通過(guò)專用吸真空工裝匹配,采用單面研磨機(jī)對(duì)基片反面進(jìn)行研磨;
S7、反面拋光:通過(guò)專用吸真空工裝匹配,采用單面拋光機(jī)對(duì)基片反面進(jìn)行拋光。
7.如權(quán)利要求6所述的超薄單層陶瓷電容器基片制造工藝,其特征在于,還包括以下步驟:
S8、清洗,將基片放入咔塞盒,用純水沖洗后采用超聲波和酒精清洗,最后風(fēng)干,存放。
8.如權(quán)利要求6所述的超薄單層陶瓷電容器基片制造工藝,其特征在于,所述專用吸真空工裝包括:透氣鋼(1)、密封圈(2)、凸臺(tái)(3)、吸真空口(4),所述凸臺(tái)(3)為中空結(jié)構(gòu),所述凸臺(tái)(3)上表面開有若干用于放置基片(5)的區(qū)域,所述透氣鋼(1)設(shè)置在所述區(qū)域中,所述透氣鋼(1)四周設(shè)置所述密封圈(2),所述凸臺(tái)(3)下表面設(shè)置所述吸真空口(4)。
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