[發明專利]利用拉曼光譜檢測金剛石微粉品級的方法及其在檢測金剛石微粉品級中的應用

有效

• 申請號: 202010973478.8
• 申請日: 2020-09-16
• 公開（公告）號: CN112014377B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: 周建斌;張學濤;周波
• 申請（專利權）人: 鄭州建斌電子科技有限公司
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;G01N21/64
• 代理公司: 鄭州大通專利商標代理有限公司 41111
• 代理人: 許艷敏

1.一種利用拉曼光譜檢測金剛石微粉品級的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

S1、檢測金剛石微粉樣品的拉曼光譜強度值及熒光強度值以及f₁拉曼光譜峰的峰位；

S2、根據下面公式計算得到金剛石品級

式中，P表示金剛石微粉品級，是q次測試結果的平均值；q表示測試次數，取值范圍1-1000次；d_j表示f₁拉曼光譜峰峰位相對1333波數偏移量；T_j表示第j次的熒光強度積分值；f_1j表示第j次的金剛石拉曼圖譜1333波峰峰值強度；f_2j表示第j次的金剛石拉曼圖譜3140波峰峰值強度；n表示冪指數；k表示斜率；b表示截距；n的取值為1.0-2.0；

熒光強度積分值通過公式(2)獲得：

式中，T_j表示熒光強度積分值，t_i表示拉曼光譜圖上第i像素點的熒光強度值，i表示拉曼光譜圖上像素的點位置，取值為1、2、3、4……i，m表示積分起點，取值為1、2、3、4……2048，h表示積分終點，取值為1、2、3、4……2048；

f₁特征峰的峰位波數偏移量d計算如下：

d_j＝1333-f_1jw?(3)

式中，d_j表示第j次的f₁特征峰的峰位波數偏移量，f_1jw表示第j次的被測樣品的f₁拉曼特征峰的實際峰位波數。

2.根據權利要求1所述的檢測金剛石微粉品級的方法，其特征在于，步驟S1所述檢測金剛石微粉樣品的熒光強度及拉曼光譜強度采用的檢測系統具體如下：

該系統包括樣品臺，激光器，探頭，光譜儀及計算機；所述探頭與激光器電連接，探頭還與光譜儀電連接，光譜儀與計算機電連接；所述樣品臺設置在探頭的正下方。

3.根據權利要求2所述的檢測金剛石微粉品級的方法，其特征在于，采用檢測系統進行檢測的方法包括以下步驟：

激光器發出的激光通過探頭照射到待測的金剛石微粉樣品上，激發待測樣品產生拉曼光譜和熒光光譜；

探頭探測拉曼光譜信息并傳輸給與其相連接的光譜儀；

光譜儀將拉曼光譜信號轉換成數字信號傳輸給計算機，即得到金剛石樣品的拉曼光譜和熒光光譜。

4.根據權利要求1所述的檢測金剛石微粉品級的方法，其特征在于，公式(1)中n的取值為1.2。

5.權利要求1-4任一項所述的檢測金剛石微粉品級的方法在金剛石微粉品級檢測中的應用。