[發(fā)明專利]TFT器件及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010972995.3 | 申請日: | 2020-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN112071916A | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 聶曉輝 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;H01L23/552;H01L21/336;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 唐秀萍 |
| 地址: | 430079 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | tft 器件 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供一種TFT器件及其制備方法、陣列基板,該TFT器件至少包括襯底、嵌設(shè)于襯底內(nèi)的折射層、位于折射層表面的遮光層、覆蓋遮光層的緩沖層以及位于緩沖層表面的有源層;折射層包括陣列分布的反射塊,反射塊一端嵌設(shè)襯底的內(nèi)部,另一端貼合于遮光層表面,反射塊內(nèi)填充有金屬鉬,當(dāng)外界光線照射到反射塊表面時,會發(fā)生全反射,射出襯底,降低光透率同時增強反射面光反射,提高遮光能力,降低TFT光生漏電流。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種TFT器件及其制備方法、陣列基板。
背景技術(shù)
薄膜晶體管陣列基板是平板顯示裝置的重要組成部分,可形成在玻璃基板或塑料基板上,通常作為開關(guān)裝置和驅(qū)動裝置用在如LCD顯示裝置與OLED顯示裝置中。
有源矩陣式薄膜晶體管TFT器件是像素電路的核心器件,由有源層、柵絕緣層、柵電極和源漏極構(gòu)成。對于TFT器件,最核心起作用的是半導(dǎo)體有源層,目前主流的材料為非晶硅和多晶硅p-Si。其中,低溫多晶硅薄膜晶體管LTPS-TFT具有制備溫度低,載流子遷移率高,器件尺寸小等突出優(yōu)點,是發(fā)展低功耗、高集成度顯示面板的關(guān)鍵技術(shù)。
為抑制LTPS-TFT器件在光照條件下產(chǎn)生光生電流,避免TFT自動開啟,目前主流的技術(shù)手段是在制作LTPS-TFT之前沉積一層鉬金屬薄膜,通過曝光、顯影、蝕刻等工藝將金屬薄膜圖形化,形成LTPS-TFT溝道遮光層,為保證非金屬膜層的臺階覆蓋性,遮光層一般只有500~800埃,在強光照射下仍有部分光可以穿過照射到多晶硅上,導(dǎo)致光生漏電流的技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種TFT器件及其制備方法,能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中制作LTPS-TFT之前沉積一層鉬金屬薄膜,通過曝光、顯影、蝕刻等工藝將金屬薄膜圖形化,形成LTPS-TFT溝道遮光層,為保證非金屬膜層的臺階覆蓋性,遮光層一般只有500~800埃,在強光照射下仍有部分光可以穿過照射到多晶硅上,導(dǎo)致光生漏電流的技術(shù)問題。
為解決上述問題,本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明實施例提供一種TFT器件,包括襯底、位于所述襯底上的遮光層、以及位于所述襯底與所述遮光層之間的折射層。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述折射層包括陣列分布的反射塊,所述反射塊的一側(cè)嵌設(shè)于所述襯底的內(nèi)部,所述反射塊的相對另一側(cè)貼合于所述遮光層表面。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述襯底表面形成有具有反射面的凹槽,所述凹槽內(nèi)填充有金屬鉬,形成所述反射塊。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述反射塊的截面形狀為等腰三角形,且所述等腰三角形的頂角垂直插入所述襯底的內(nèi)部,當(dāng)外界光線照射到該等腰三角形的兩腰上時,會發(fā)生全反射,將光線導(dǎo)出所述襯底。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述反射塊的垂直高度等于或小于所述遮光層的厚度。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述反射塊的截面形狀為波浪線或鋸齒形。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述遮光層包括第一遮光層和第二遮光層,所述折射層包括第一折射層和第二折射層,其中,所述第一折射層位于所述第一遮光層與所述襯底之間,所述第二折射層位于所述第二遮光層與所述襯底之間,所述第一遮光層覆蓋所述第一折射層,所述第二遮光層覆蓋所述第二折射層。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述第一遮光層和所述第二遮光層的厚度均為50nm至80nm范圍內(nèi)。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例,所述TFT器件還包括覆蓋所述遮光層的緩沖層、位于所述緩沖層表面的有源層,所述有源層為U型,所述第一遮光層和所述第二遮光層分別對稱分布在U型的兩側(cè)上,所述緩沖層和所述有源層側(cè)面呈光滑過渡。
依據(jù)上述TFT器件,本發(fā)明還提供一種TFT器件的制備方法,包括:
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H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





