[發明專利]用于檢測對集成電路的侵入性攻擊的設備和方法

在審

• 申請號: 202010964948.4
• 申請日: 2020-09-15
• 公開（公告）號: CN113111394A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 博赫丹·卡爾平斯基;盧美貞;樸志殷;李容基;李柱淵
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06F21/76
• 分類號: G06F21/76;H04L9/08
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 張川緒;劉燦強

1.一種用于檢測侵入性攻擊的設備，包括：

集成電路，具有在所述集成電路上的多條導線，所述集成電路包括：

信號生成電路，被配置為：基于隨機數或偽隨機數生成隨機信號和選擇信號；

發送電路，被配置為：基于選擇信號選擇所述多條導線中的至少一條導線，并且經由所述多條導線中的被選的至少一條導線輸出隨機信號；以及

接收電路，被配置為：基于通過所述多條導線中的被選的至少一條導線接收的信號來檢測對所述集成電路的侵入性攻擊。

2.根據權利要求1所述的設備，其中，接收電路還被配置為：基于選擇信號來選擇所述多條導線中的所述至少一條導線。

3.根據權利要求1所述的設備，

其中，所述多條導線包括多條第一導線；

其中，發送電路包括第一發送單元電路，第一發送單元電路被配置為基于選擇信號從所述多條第一導線之中選擇一條第一導線，并且通過所述多條第一導線中的被選的第一導線輸出隨機信號的第一比特；并且

其中，接收電路包括第一接收單元電路，第一接收單元電路被配置為基于選擇信號從所述多條第一導線之中選擇一條第一導線，并且基于通過所述多條第一導線中的被選的第一導線接收的比特信號來檢測侵入性攻擊。

4.根據權利要求3所述的設備，

其中，所述多條導線包括多條第二導線；

其中，發送電路包括第二發送單元電路，第二發送單元電路被配置為基于選擇信號從所述多條第二導線之中選擇一條第二導線，并且通過所述多條第二導線中的被選的第二導線輸出隨機信號的第二比特；并且

其中，接收電路包括第二接收單元電路，第二接收單元電路被配置為基于選擇信號從所述多條第二導線之中選擇一條第二導線，并且基于通過所述多條第二導線中的被選的第二導線接收的比特信號來檢測侵入性攻擊。

5.根據權利要求4所述的設備，

其中，發送電路和接收電路在第一方向上彼此面對；并且

其中，第一發送單元電路、第一接收單元電路、第二發送單元電路和第二接收單元電路在與第一方向垂直的第二方向上具有相同的長度。

6.根據權利要求3所述的設備，其中，第一接收單元電路被配置為：接收與隨機信號的第一比特對應的第一比特信號或通過使第一比特信號反相而生成的第一反相比特信號，并且通過將通過被選的第一導線接收的比特信號與第一比特信號或第一反相比特信號進行比較來生成第一檢測信號。

7.根據權利要求6所述的設備，

其中，接收電路還包括第三接收單元電路和第四接收單元電路，第三接收單元電路和第四接收單元電路設置在第一接收單元電路的兩側使得第三接收單元電路與第一接收單元電路相鄰并且第四接收單元電路與第一接收單元電路相鄰，并且與第一接收單元電路具有相同的結構；并且

其中，第一接收單元電路被配置為：基于從第三接收單元電路接收的第一累積檢測信號和第一檢測信號來生成第二累積檢測信號，并將第二累積檢測信號提供給第四接收單元電路。

8.根據權利要求3所述的設備，

其中，第一發送單元電路被配置為：基于選擇信號從所述多條第一導線之中選擇另一條第一導線，并通過被選的另一條第一導線輸出隨機信號的第一比特的反相比特信號；并且

其中，第一接收單元電路被配置為：基于選擇信號從所述多條第一導線之中選擇另一條第一導線，并且還基于通過被選的另一條第一導線接收的比特信號來檢測侵入性攻擊。

9.根據權利要求1所述的設備，還包括：多個導電圖案，所述多個導電圖案在所述多條導線下方連接到發送電路和接收電路；并且其中，發送電路被配置為：通過所述多個導電圖案輸出隨機信號或通過使隨機信號反相而生成的反相的隨機信號。

10.根據權利要求1所述的設備，其中，信號生成電路被配置為：將隨機信號提供給發送電路，并且將隨機信號或通過使隨機信號反相而生成的反相的隨機信號提供給接收電路。