[發明專利]用于檢測對集成電路的侵入性攻擊的設備和方法

在審

• 申請號: 202010964948.4
• 申請日: 2020-09-15
• 公開（公告）號: CN113111394A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 博赫丹·卡爾平斯基;盧美貞;樸志殷;李容基;李柱淵
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06F21/76
• 分類號: G06F21/76;H04L9/08
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 張川緒;劉燦強

公開了用于檢測對集成電路的侵入性攻擊的設備和方法。所述設備包括集成電路和設置在集成電路上的多條導線。集成電路包括：(i)信號生成電路，被配置為基于隨機數或偽隨機數生成隨機信號和選擇信號，(ii)發送電路，被配置為基于選擇信號從所述多條導線之中選擇至少一條導線，并且通過所述至少一條導線輸出隨機信號，以及(iii)接收電路，被配置為基于通過所述至少一條導線接收的信號來檢測對集成電路的侵入性攻擊。

本申請要求于2020年1月9日提交的第10-2020-0003185號韓國專利申請的權益，所述韓國專利申請的公開通過引用包含于此。

技術領域

發明構思涉及用于保護集成電路免受黑客攻擊和其他不適當的攻擊的技術，更具體地，涉及用于檢測侵入性攻擊(invasive attack)的設備和方法。

背景技術

為了從集成電路提取安全信息(諸如，存儲在集成電路中的信息和/或關于由集成電路執行的操作的信息)，可發起對集成電路的侵入性攻擊。例如，攻擊者可嘗試通過在拆卸包括集成電路的裝置(諸如，半導體裝置)并對集成電路供電之后進行探測，來獲得安全信息。一些半導體裝置可被設計為包括用于通過檢測這樣的拆卸來檢測侵入性攻擊的結構，但是更新的侵入性攻擊策略正被開發以使用于檢測這樣的拆卸的結構無效。因此，可能需要用于檢測侵入性攻擊的結構具有足以檢測更高級的侵入性攻擊同時仍然保持高效率(諸如，高靈活性、低功耗、小面積等)的更高的性能特性。

發明內容

發明構思提供了用于有效地檢測高級侵入性攻擊的設備和方法。

根據發明構思的一個方面，提供了一種包括集成電路和設置在集成電路上的多條導線的設備。集成電路包括：(i)信號生成電路，被配置為基于隨機數或偽隨機數生成隨機信號和選擇信號，(ii)發送電路，被配置為基于選擇信號從所述多條導線之中選擇至少一條導線，并且通過所述至少一條導線輸出隨機信號，以及(iii)接收電路，被配置為基于通過所述至少一條導線接收的信號來檢測對集成電路的侵入性攻擊。

根據發明構思的另一方面，提供了一種設備，所述設備包括集成電路和設置在集成電路上的多條導線。集成電路包括：(i)信號生成電路，被配置為基于隨機數或偽隨機數生成隨機信號和選擇信號；(ii)發送電路，包括多個解復用器，所述多個解復用器各自被配置為基于選擇信號從所述多條導線之中選擇一條導線，并通過被選導線輸出隨機信號的一個比特；以及(iii)接收電路，包括多個復用器，所述多個復用器各自被配置為從所述多條導線之中選擇一條導線，并輸出通過被選導線接收的信號。在一些實施例中，接收電路被配置為基于通過所述多個復用器提供的輸出信號檢測對集成電路的侵入性攻擊。

根據發明構思的另一方面，提供了一種使用設置在集成電路上的多條導線來檢測侵入性攻擊的方法。該方法包括：基于隨機數或偽隨機數生成隨機信號和選擇信號；基于選擇信號從所述多條導線之中選擇至少一條導線；通過被選的至少一條導線輸出隨機信號；以及基于通過被選的至少一條導線接收的信號來檢測侵入性攻擊。

附圖說明

從下面的結合附圖的詳細描述，將更清楚地理解發明構思的實施例，其中：

為了便于說明，本說明書所附的附圖可不符合比例，并且可示出放大或縮小的組件；

圖1是示意性地示出根據發明構思的實施例的設備的示圖；

圖2A和圖2B是示出根據發明構思的實施例的多條導線的示例的示圖；

圖3是示出根據發明構思的實施例的包括有源防護件的設備的示例的框圖；

圖4A和圖4B是示出根據發明構思的另一實施例的包括有源防護件的設備的示例的框圖；

圖5是示出根據發明構思的實施例的包括有源防護件的設備的示例的框圖；

圖6是示出根據發明構思的另一實施例的包括有源防護件的設備的示例的框圖；