[發明專利]一種射線直接數字成像檢測低曝光量標準參數確定方法有效
| 申請號: | 202010964127.0 | 申請日: | 2020-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN112557423B | 公開(公告)日: | 2022-05-17 |
| 發明(設計)人: | 陳劍;劉家發;單忠斌;董利蘋;趙洪元 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣集團有限公司;大慶石油管理局有限公司;大慶油田建設集團有限責任公司 |
| 主分類號: | G01N23/04 | 分類號: | G01N23/04 |
| 代理公司: | 大慶知文知識產權代理有限公司 23115 | 代理人: | 馬微 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 射線 直接 數字 成像 檢測 曝光 標準 參數 確定 方法 | ||
1.一種射線直接數字成像檢測低曝光量標準參數確定方法,其特征在于,包括:
步驟S1、制備多個厚度不同的試驗標定塊,每個標定塊的中部設有焊縫;
步驟S2、選用數字探測器以及高頻恒壓定向X射線機作為檢測設備;
步驟S3、根據檢測的焊縫材質和透照厚度設置定向X射線機工作的最高管電壓,設置管電流,對定向X射線機進行工作訓機;
步驟S4、采用單壁單影檢測透照方法,將數字探測器和定向X射線機相對放置固定在檢測工裝上,試驗用的標定塊位于數字探測器和定向X射線機之間,按厚度從小到大的順序依次放置到檢測工裝的工位架上,標定塊的焊縫呈水平方向放置,數字探測器中部和X射線機對準標定塊焊縫;
步驟S5、啟動DR檢測系統的數字探測器以及相應的應用程序;步驟S6、在標定塊的表面布置檢測標記和像質計;
步驟S7、工藝參數試驗,具體包括:
步驟S71、選擇厚度最小的標定塊進行工藝參數試驗,根據透照厚度設置較低的管電壓,設置成像幀速和積分次數工藝參數,選取焊縫檢測成像區,進行焊縫數據采集數字成像并存儲到計算機中;
步驟S72、測量并記錄焊縫數字圖像的靈敏度、分辨率、歸一化信噪比和灰度技術指標,記錄管電壓、管電流、幀速、積分次數、焦距、透照幾何參數、透照厚度參數;
步驟S73、在保證透照厚度、管電流、幀速、積分次數、焦距、透照幾何參數工藝參數不變的情況下,依次以5kv的遞增幅度設置管電壓,進行焊縫數據采集數字成像,記錄相應的技術指標和工藝參數,直到圖像灰度超過80%,完成該厚度標定塊的工藝參數試驗;
步驟S74、依次選取鄰近厚度的標定塊,重復上述步驟S71~S73直到完成所有標定塊的工藝參數試驗;
步驟S8、生成標準工藝參數圖;具體包括:
步驟S81、選取每個工藝試驗標定塊的圖像有效評定區灰度接近20%的工藝參數特征值,包括管電壓、管電流、幀速、積分次數、焦距、透照幾何參數等值;
步驟S82、設置參數圖的橫、縱軸分別為透照厚度和管電壓,自動生成圖像有效評定區灰度20%的DR低曝光量標準工藝參數連續點擬合圖和對應的線性函數;
步驟S83、重復上述步驟S81~S82,依次生成圖像有效評定區灰度值分別為30%、40%、50%、60%、70%、80%的DR低曝光量標準工藝參數連續擬合圖和對應的線性函數。
2.如權利要求1所述的射線直接數字成像檢測低曝光量標準參數確定方法,其特征在于,標定塊的最小加工數量N=最大透照厚度T/3取整數,標定塊的最小厚度一般為3-4mm,相鄰標定塊的厚度差為2-3mm,每個標定塊的長寬尺寸為300×300mm。
3.如權利要求1所述的射線直接數字成像檢測低曝光量標準參數確定方法,其特征在于,數字探測器的有效像素尺寸應不大于200um,高頻恒壓定向X射線機的有效焦點尺寸不大于3mm且最高管電壓為300kv。
4.如權利要求1所述的射線直接數字成像檢測低曝光量標準參數確定方法,其特征在于,數字探測器距離標定塊設置為10mm-15mm。
5.如權利要求1所述的射線直接數字成像檢測低曝光量標準參數確定方法,其特征在于,步驟S6具體包括:在標記帶上布置好焊縫編號、焊縫規格、日期識別標記,將標記帶用磁夾固定在標定塊表面,檢測標記應距離焊縫邊緣至少5mm;
線型像質計布置在射線源側的標定塊焊縫一端被檢區長度的1/4左右位置,金屬絲應垂直橫跨焊縫,細絲置于外側;
雙線型像質計布置射線源側的標定塊焊縫一端被檢區長度的1/4左右位置的母材上,雙線型像質計的金屬絲與數字探測器的行或列成2°~5°夾角,且細絲置于外側。
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