[發(fā)明專(zhuān)利]低溫測(cè)試防結(jié)霜短路結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010964098.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112083314A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 殷嵐勇;曹子意 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 蘇州韜盛電子科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京華際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11676 | 代理人: | 范登峰 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 低溫 測(cè)試 結(jié)霜 短路 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種低溫測(cè)試防結(jié)霜短路結(jié)構(gòu),包括芯片(1),其特征在于:所述芯片(1)底部?jī)蓚?cè)設(shè)有若干組芯片引腳(2),所述芯片(1)設(shè)置于測(cè)試座(3)上端的安裝槽(4)內(nèi),所述安裝槽(4)上端表面設(shè)有位于芯片引腳(2)正下方的凹槽(5),所述測(cè)試座(3)內(nèi)的探針(9)的上端抵住對(duì)應(yīng)的芯片引腳(2),所述探針(9)的下端接觸PCB板(8)的上端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低溫測(cè)試防結(jié)霜短路結(jié)構(gòu),其特征在于:同一側(cè)所述芯片引腳(2)之間為等距設(shè)置,且單個(gè)所述芯片引腳(2)對(duì)應(yīng)一個(gè)型號(hào)的引腳。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低溫測(cè)試防結(jié)霜短路結(jié)構(gòu),其特征在于:所述PCB板(8)通過(guò)螺絲(6)固定于測(cè)試座(3)的下端,所述螺絲(6)上螺接有調(diào)節(jié)螺母(7)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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