[發明專利]一種集成電路后仿真方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010963765.0
• 申請日: 2020-09-14
• 公開（公告）號: CN112100952B
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 代開勇;高紅莉;陳奎;張寧;潘于
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F30/33
• 分類號: G06F30/33;G06F30/3312;G06F30/327
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 蔣姍

1.一種集成電路后仿真方法，其特征在于，包括：

獲取待進行后仿真的集成電路中頂層和各子模塊各自仿真所需的包括網表在內的仿真參數，其中，頂層和各個子模塊各自對應的網表彼此獨立且相互不同；

針對每一個子模塊，利用該子模塊對應的仿真參數對該子模塊進行后仿真，得到對應的仿真結果和快速信號數據庫FSDB文件，以及利用所述頂層對應的仿真參數對所述頂層進行后仿真，得到所述頂層的仿真結果和FSDB文件；

其中，該子模塊仿真所需的仿真參數包括：模塊測試文件、輸入激勵和輸出參考值、模塊網表以及模塊標準延時格式SDF文件；獲取該子模塊對應的模塊測試文件、輸入激勵和輸出參考值的步驟，包括：

獲取所述集成電路的網表、標準寄生參數交換格式SPEF文件、標準設計約束SDC約束文件、寄存器傳輸級RTL代碼以及前仿真測試用例；

根據所述集成電路的網表、所述SPEF文件、所述SDC約束文件，得到該子模塊對應的模塊測試文件和用于抓取該子模塊的輸入激勵和輸出參考值的腳本；

利用抓取該子模塊的輸入激勵和輸出參考值的腳本去獲取所述RTL代碼運行所述前仿真測試用例時產生的數據，得到該子模塊的所述輸入激勵和輸出參考值；

其中，根據所述集成電路的網表、所述SPEF文件、所述SDC約束文件，得到該子模塊對應的模塊測試文件和用于抓取該子模塊的輸入激勵和輸出參考值的腳本，包括：

讀入所述集成電路的網表、所述SPEF文件、所述SDC約束文件后，計算該網表中該子模塊的輸入輸出pin，得到該子模塊的IO接口信號，以及計算該子模塊中的標準單元和標準單元間的連線的延時信息，并提取當前環境中各個pin的延時信息，得到該子模塊對應的IO延時信號，以及查詢各輸入輸出pin所在的時鐘域，得到該子模塊對應的時鐘域信號；

根據該子模塊對應的IO延時信號和時鐘域信號生成用于對仿真流程起控制作用的模塊測試文件；

根據該子模塊對應的IO接口信號和時鐘域信號生成用于抓取該子模塊各自的輸入激勵和輸出參考值的腳本。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，利用該子模塊對應的仿真參數對該子模塊進行仿真，包括：

對所述模塊網表、所述模塊測試文件進行編譯生成仿真電路可執行文件；

根據所述SDF文件在仿真電路中反標標準單元和標準單元間的連線的延時信息，并運行；

在運行的過程中，將所述輸入激勵加載至該仿真電路的各個輸入管腳，并將該仿真電路輸出的值與對應的輸出參考值進行比較，得到對應的仿真結果和FSDB文件。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，該子模塊仿真所需的仿真參數還包括：寄存器掃描鏈信息，其中，所述寄存器掃描鏈信息包含將該子模塊中的各個寄存器按照掃描測試鏈的順序提取的指定時刻的寄存器值；相應地，利用該子模塊對應的仿真參數對該子模塊進行仿真，包括：

對所述模塊網表、所述模塊測試文件進行編譯生成仿真電路可執行文件；

根據所述模塊SDF文件在仿真電路中反標標準單元和標準單元間的連線的延時信息，以及根據所述寄存器掃描鏈信息對所述仿真電路中的寄存器進行賦值，并運行；

在運行的過程中，將所述輸入激勵加載至該仿真電路的各個輸入管腳，并將該仿真電路輸出的值與對應的輸出參考值進行比較，得到對應的仿真結果和FSDB文件。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，獲取該子模塊對應的寄存器掃描鏈信息的步驟，包括：

根據所述集成電路的網表、所述SDC約束文件，得到用于抓取該子模塊指定時刻的寄存器掃描鏈信息的腳本；

利用所述抓取該子模塊指定時刻的寄存器掃描鏈信息的腳本去獲取所述RTL代碼運行所述前仿真測試用例時產生的指定時刻的寄存器值，得到該子模塊指定時刻的寄存器掃描鏈信息。