[發(fā)明專利]一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010962777.1 | 申請日: | 2020-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN112033534A | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(專利權(quán))人: | 金華伏安光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/56 | 分類號: | G01J1/56;G01J11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 322200 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 光熱 效應 赫茲 脈沖 能量 探測 裝置 | ||
本發(fā)明提供了一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置,振源和固定部置于基底上,石墨烯層為條形,石墨烯層的兩端分別固定在振源和固定部上,壓電材料塊設置在石墨烯層上靠近所述固定部的一端,壓電材料塊與外部電路連接。應用時,待測太赫茲脈沖照射到石墨烯層上,產(chǎn)生光熱效應,從而改變石墨烯層的共振頻率,通過測量石墨烯層共振頻率的改變實現(xiàn)太赫茲脈沖能量的探測。因為石墨烯層的共振頻率與石墨烯層中的應力密切相關,所以本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)太赫茲脈沖能量的高靈敏度探測。
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及太赫茲脈沖能量探測領域,具體涉及一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置。
背景技術(shù)
太赫茲脈沖在通訊和檢測中非常重要。太赫茲脈沖能量探測是太赫茲波應用的重要環(huán)節(jié),目前缺乏高靈敏太赫茲脈沖能量探測手段。
發(fā)明內(nèi)容
為解決以上問題,本發(fā)明提供了一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置,包括:基底、振源、固定部、石墨烯層、壓電材料塊;振源和固定部置于基底上,石墨烯層為條形,石墨烯層的兩端分別固定在振源和固定部上,壓電材料塊設置在石墨烯層上靠近所述固定部的一端,壓電材料塊與外部電路連接。
更進一步地,石墨烯層中設有孔洞。
更進一步地,孔洞為多個。
更進一步地,孔洞非周期性排列。
更進一步地,孔洞為圓形、方形或星形。
更進一步地,在基底上、石墨烯層的下方設有反射層。
更進一步地,反射層的反射系數(shù)大于0.99。
更進一步地,石墨烯層中石墨烯的層數(shù)少于10層。
更進一步地,固定部為絕緣材料。
更進一步地,固定部的高度大于振源的高度。
本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供了一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置,包括:基底、振源、固定部、石墨烯層、壓電材料塊;振源和固定部置于基底上,石墨烯層為條形,石墨烯層的兩端分別固定在振源和固定部上,壓電材料塊設置在石墨烯層上靠近所述固定部的一端,壓電材料塊與外部電路連接。應用時,待測太赫茲脈沖照射到石墨烯層上,產(chǎn)生光熱效應,石墨烯層吸熱后絕熱膨脹,減少石墨烯層中的應力,從而改變石墨烯層的共振頻率,通過測量石墨烯層共振頻率的改變實現(xiàn)太赫茲脈沖能量的探測。因為石墨烯層的共振頻率與石墨烯層中的應力密切相關,所以本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)太赫茲脈沖能量的高靈敏度探測。此外,本發(fā)明通過測量石墨烯層力學上的共振頻率,確定太赫茲脈沖能量,裝置的成本低。
以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步詳細說明。
附圖說明
圖1是一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置的示意圖。
圖2是又一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置的示意圖。
圖3是再一種基于光熱效應的太赫茲脈沖能量探測裝置的示意圖。
圖中:1、基底;2、振源;3、固定部;4、石墨烯層;5、壓電材料塊;6、孔洞;7、反射層。
具體實施方式
為進一步闡述本發(fā)明達成預定目的所采取的技術(shù)手段及功效,以下結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明的具體實施方式、結(jié)構(gòu)特征及其功效,詳細說明如下。
實施例1
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