[發(fā)明專利]一種基于光信息三維空間測量方法

有效

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• 申請日: 2020-09-10
• 公開（公告）號: CN112097679B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張簡慶賓;陳柏安
• 申請（專利權(quán)）人: 廈門海鉑特生物科技有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 廈門致群財富專利代理事務(wù)所(普通合伙) 35224
• 代理人: 劉兆慶

1.一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、收集三維空間信息，所述三維空間信息包含待觀測物之高度資訊、平面坐標(biāo)資訊及表面曲率資訊；

S2、收集參考基準(zhǔn)光資訊訊息，所述參考基準(zhǔn)光資訊訊息為收集待觀測物存在之空間位置內(nèi)，不同高度下放置參考板，并測量間隔不同高度下參考板之基準(zhǔn)光資訊訊息，以作為一參考數(shù)值；所述參考基準(zhǔn)光資訊訊息中，間隔不同高度下參考板之高光譜資訊，以數(shù)值分析方法繪制出間隔不同高度下參考板之高光譜資訊之趨勢線，以該趨勢線作為依據(jù)建構(gòu)待觀測物存在之空間位置中不同高度下參考基準(zhǔn)光資訊訊息；

S3、收集待觀測物光資訊訊息，所述待觀測物光資訊訊息為實際測量待觀測物之光資訊實測數(shù)值；

S4、運算三維空間信息校正光資訊訊息，將三維空間信息、參考基準(zhǔn)光資訊訊息及待觀測物光資訊訊息導(dǎo)入運算三維空間信息校正光資訊訊息，將三維空間信息結(jié)合待觀測物光資訊訊息，并利用參考基準(zhǔn)光資訊訊息運算出三維空間坐標(biāo)上的實際測量待觀測物的校正光資訊訊息。

2.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，所述三維空間信息是利用三維掃描儀收集其三維空間信息，該三維掃描儀為接觸式掃描儀、非接觸式主動掃描儀及非接觸式被動掃描儀中任意一種。

3.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，所述參考基準(zhǔn)光資訊訊息中，該參考板為白板、黑板及其他色板中任意一種。

4.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，所述待觀測物光資訊訊息中，該光資訊訊息包括至少一影像、波長范圍、強度資訊及時間資訊。

5.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，所述待觀測物光資訊訊息中，是使用光傳感器測量待觀測物，該光傳感器以大量的不同波段的電磁頻譜來測量待觀測物。

6.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，步驟S1、S2、S3中可置換順序或同時執(zhí)行，以縮短測量時間。

7.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，所述運算三維空間信息校正光資訊訊息包含至少一高度坐標(biāo)結(jié)合校正光資訊影像、高度坐標(biāo)結(jié)合校正光資訊波長范圍和高度坐標(biāo)結(jié)合校正高光資訊強度資訊。

8.如權(quán)利要求1所述的一種基于光信息三維空間測量方法，其特征在于，所述運算三維空間信息校正光資訊訊息包含至少一平面坐標(biāo)結(jié)合校正光資訊影像、平面坐標(biāo)結(jié)合校正光資訊波長范圍和平面坐標(biāo)結(jié)合校正光資訊強度資訊。