[發明專利]相控陣天線檢測方法、裝置、計算機設備和可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010947392.8
• 申請日: 2020-09-10
• 公開（公告）號: CN112085135B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 田義德;谷濱;祝鵬;劉柯彤;羅烜;郭凡玉
• 申請（專利權）人: 成都天銳星通科技有限公司
• 主分類號: G06K17/00
• 分類號: G06K17/00;G06K19/07;G06K7/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐麗

本發明提供一種相控陣天線檢測方法、裝置、計算機設備和可讀存儲介質，本發明涉及天線檢測技術領域，相控陣天線檢測方法包括：發送第一檢測指令至波控板，以使波控板基于第一檢測指令將預先生成的檢測數據發送至目標芯片，目標芯片為多個芯片中的任一個；發送第二檢測指令至波控板，以使波控板基于第二檢測指令將反饋數據回讀至計算機設備，反饋數據是目標芯片根據檢測數據確定的；根據檢測數據和反饋數據對目標芯片進行讀寫功能檢測，得到目標芯片的讀寫功能檢測結果；重復上述步驟，對每個芯片均進行讀寫功能檢測，直至得到每個芯片的讀寫功能檢測結果，能夠便捷地實現對相控陣天線的檢測。

技術領域

本發明涉及天線檢測技術領域，具體而言，涉及一種相控陣天線檢測方法、裝置、計算機設備和可讀存儲介質。

背景技術

目前，為了天線是否能夠正常工作，會對天線對應的芯片進行讀寫操作，以此來驗證芯片是否具備正常的讀寫功能，且芯片對應的通道是否正常。而相控陣天線的天線通道數量較多，現有對單個通道進行測試的方案并不能滿足擁有多通道的相控陣天線，想要實現相控陣天線的檢測十分的不便。

有鑒于此，如何提供一種便捷地相控陣天線檢測檢測方案，是本領域技術人員需要解決的。

發明內容

本發明提供了一種相控陣天線檢測方法、裝置、計算機設備和可讀存儲介質。

本發明的實施例可以這樣實現：

第一方面，本發明實施例提供一種相控陣天線檢測方法，應用于計算機設備，所述計算機設備與波控板和多個芯片均通信連接，所述波控板與每個所述芯片均通信連接；

所述方法包括：

發送第一檢測指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一檢測指令將預先生成的檢測數據發送至目標芯片，所述目標芯片為所述多個芯片中的任一個；

發送第二檢測指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二檢測指令將反饋數據回讀至所述計算機設備，所述反饋數據是所述目標芯片根據所述檢測數據確定的；

根據所述檢測數據和所述反饋數據對所述目標芯片進行讀寫功能檢測，得到目標芯片的讀寫功能檢測結果；

重復上述步驟，基于所述解算參數對每個所述芯片均進行讀寫功能檢測，直至得到所述解算參數配置下每個所述芯片的讀寫功能檢測結果。

在可選的實施方式中，所述第一檢測指令包括單通道寄存器寫指令，每個所述芯片均包括寄存器，所述檢測數據為第一隨機數；

所述發送第一檢測指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一檢測指令將預先生成的檢測數據發送至目標芯片的步驟，包括：

發送所述單通道寄存器寫指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述單通道寄存器寫指令將預先生成的第一隨機數發送至目標芯片，并將所述第一隨機數寫入所述目標芯片的寄存器中。

在可選的實施方式中，所述第二檢測指令包括單通道回讀寄存器指令，所述反饋數據為第二隨機數；

所述發送第二檢測指令至所述波控板，以使所述波控板將反饋數據回讀至所述計算機設備的步驟，包括：

發送所述單通道回讀寄存器指令至所述波控板，以使所述波控板從所述目標芯片的寄存器中將基于所述第一隨機數下發的所述第二隨機數回讀至所述計算機設備。

在可選的實施方式中，所述波控板和每個所述芯片通過每個所述芯片各自的通道進行通信連接；

所述根據所述檢測數據和所述反饋數據對所述目標芯片進行讀寫功能檢測，得到目標芯片的讀寫功能檢測結果的步驟，包括：

判斷所述第一隨機數和所述第二隨機數是否相同；

若是，則確定所述目標芯片的通道正常；