[發明專利]相控陣天線檢測方法、裝置、計算機設備和可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010947392.8
• 申請日: 2020-09-10
• 公開（公告）號: CN112085135B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 田義德;谷濱;祝鵬;劉柯彤;羅烜;郭凡玉
• 申請（專利權）人: 成都天銳星通科技有限公司
• 主分類號: G06K17/00
• 分類號: G06K17/00;G06K19/07;G06K7/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐麗

1.一種相控陣天線檢測方法，其特征在于，應用于計算機設備，所述計算機設備與波控板和多個芯片均通信連接，所述波控板與每個所述芯片均通信連接；

所述方法包括：

發送第一檢測指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一檢測指令將預先生成的檢測數據發送至目標芯片，并將所述檢測數據發送至目標芯片，所述目標芯片為所述多個芯片中的任一個；

發送第二檢測指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二檢測指令將反饋數據回讀至所述計算機設備，所述反饋數據是所述目標芯片根據所述檢測數據確定的；

根據所述檢測數據和所述反饋數據對所述目標芯片進行讀寫功能檢測，得到目標芯片的讀寫功能檢測結果；

重復上述步驟，對每個所述芯片均進行讀寫功能檢測，直至得到每個所述芯片的讀寫功能檢測結果；

所述第一檢測指令包括單通道寄存器寫指令，每個所述芯片均包括寄存器，所述檢測數據為第一隨機數；

所述發送第一檢測指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一檢測指令將預先生成的檢測數據發送至目標芯片的步驟，包括：

發送所述單通道寄存器寫指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述單通道寄存器寫指令將預先生成的第一隨機數發送至目標芯片，并將所述第一隨機數寫入所述目標芯片的寄存器中；

在每個所述芯片均進行讀寫功能檢測之后，所述方法還包括：

獲取解算參數，所述解算參數為所述計算機設備和所述波控板進行解算操作的原始數據集；

根據所述解算參數計算得到每個所述芯片對應的標準檢測結果；

將所述解算參數發送至所述波控板，以使所述波控板根據所述解算參數計算得到每個所述芯片對應的對比檢測結果，并將所述目標芯片的對比檢測結果發送至所述目標芯片的寄存器；

根據每個所述芯片對應的標準檢測結果和所述目標芯片的對比檢測結果對所述目標芯片進行解算功能檢測，得到所述目標芯片的解算功能檢測結果；

重復上述步驟，基于所述解算參數對每個所述芯片均進行解算功能檢測，直至得到所述解算參數配置下每個所述芯片的解算功能檢測結果；

每個所述芯片的通道均有對應的通道標記，每個所述芯片的通道標記與每個所述芯片的標準檢測結果有對應關系；

所述根據每個所述芯片對應的標準檢測結果和所述目標芯片的對比檢測結果對所述目標芯片進行解算功能檢測，得到所述目標芯片的解算功能檢測結果的步驟，包括：

獲取所述目標芯片的通道對應的通道標記；

根據所述目標芯片的通道對應的通道標記，確定所述目標芯片的標準檢測結果；

判斷所述目標芯片的標準檢測結果與所述目標芯片的對比檢測結果是否相同；

若是，則確定所述目標芯片的通道正常；

若否，則將所述目標芯片的標準檢測結果與所述目標芯片的對比檢測結果進行記錄，并發出通道報錯提示，所述通道報錯提示用于表征所述目標芯片的通道異常；

所述解算參數包括數據庫文件，所述標準檢測結果為上位機幅相碼，所述對比檢測結果為波控板回讀幅相碼；

所述根據所述解算參數計算得到每個所述芯片對應的標準檢測結果的步驟，包括：

根據預設的頻率等級和加權等級對所述數據庫文件進行解算，得到每個所述芯片的通道對應的上位機幅相數據；

分別對每個所述芯片的通道對應的上位機幅相數據進行量化編碼，得到每個所述芯片對應的上位機幅相碼；

所述判斷所述目標芯片的標準檢測結果與所述目標芯片的對比檢測結果是否相同的步驟，包括：

判斷所述目標芯片的上位機幅相碼與所述目標芯片的波控板回讀幅相碼的差值是否在量化誤差范圍內；

若是，則判定所述目標芯片的標準檢測結果與所述目標芯片的對比檢測結果相同；

若否，則判定所述目標芯片的標準檢測結果與所述目標芯片的對比檢測結果不相同。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二檢測指令包括單通道回讀寄存器指令，所述反饋數據為第二隨機數；

所述發送第二檢測指令至所述波控板，以使所述波控板將反饋數據回讀至所述計算機設備的步驟，包括：

發送所述單通道回讀寄存器指令至所述波控板，以使所述波控板從所述目標芯片的寄存器中將基于所述第一隨機數下發的所述第二隨機數回讀至所述計算機設備。