[發(fā)明專(zhuān)利]相控陣天線(xiàn)檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010947392.8
• 申請(qǐng)日: 2020-09-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112085135B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 田義德;谷濱;祝鵬;劉柯彤;羅烜;郭凡玉
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 成都天銳星通科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06K17/00
• 分類(lèi)號(hào): G06K17/00;G06K19/07;G06K7/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專(zhuān)利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐麗

1.一種相控陣天線(xiàn)檢測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于計(jì)算機(jī)設(shè)備，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備與波控板和多個(gè)芯片均通信連接，所述波控板與每個(gè)所述芯片均通信連接；

所述方法包括：

發(fā)送第一檢測(cè)指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一檢測(cè)指令將預(yù)先生成的檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至目標(biāo)芯片，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至目標(biāo)芯片，所述目標(biāo)芯片為所述多個(gè)芯片中的任一個(gè)；

發(fā)送第二檢測(cè)指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二檢測(cè)指令將反饋數(shù)據(jù)回讀至所述計(jì)算機(jī)設(shè)備，所述反饋數(shù)據(jù)是所述目標(biāo)芯片根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)確定的；

根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和所述反饋數(shù)據(jù)對(duì)所述目標(biāo)芯片進(jìn)行讀寫(xiě)功能檢測(cè)，得到目標(biāo)芯片的讀寫(xiě)功能檢測(cè)結(jié)果；

重復(fù)上述步驟，對(duì)每個(gè)所述芯片均進(jìn)行讀寫(xiě)功能檢測(cè)，直至得到每個(gè)所述芯片的讀寫(xiě)功能檢測(cè)結(jié)果；

所述第一檢測(cè)指令包括單通道寄存器寫(xiě)指令，每個(gè)所述芯片均包括寄存器，所述檢測(cè)數(shù)據(jù)為第一隨機(jī)數(shù)；

所述發(fā)送第一檢測(cè)指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一檢測(cè)指令將預(yù)先生成的檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至目標(biāo)芯片的步驟，包括：

發(fā)送所述單通道寄存器寫(xiě)指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述單通道寄存器寫(xiě)指令將預(yù)先生成的第一隨機(jī)數(shù)發(fā)送至目標(biāo)芯片，并將所述第一隨機(jī)數(shù)寫(xiě)入所述目標(biāo)芯片的寄存器中；

在每個(gè)所述芯片均進(jìn)行讀寫(xiě)功能檢測(cè)之后，所述方法還包括：

獲取解算參數(shù)，所述解算參數(shù)為所述計(jì)算機(jī)設(shè)備和所述波控板進(jìn)行解算操作的原始數(shù)據(jù)集；

根據(jù)所述解算參數(shù)計(jì)算得到每個(gè)所述芯片對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果；

將所述解算參數(shù)發(fā)送至所述波控板，以使所述波控板根據(jù)所述解算參數(shù)計(jì)算得到每個(gè)所述芯片對(duì)應(yīng)的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果，并將所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果發(fā)送至所述目標(biāo)芯片的寄存器；

根據(jù)每個(gè)所述芯片對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果和所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果對(duì)所述目標(biāo)芯片進(jìn)行解算功能檢測(cè)，得到所述目標(biāo)芯片的解算功能檢測(cè)結(jié)果；

重復(fù)上述步驟，基于所述解算參數(shù)對(duì)每個(gè)所述芯片均進(jìn)行解算功能檢測(cè)，直至得到所述解算參數(shù)配置下每個(gè)所述芯片的解算功能檢測(cè)結(jié)果；

每個(gè)所述芯片的通道均有對(duì)應(yīng)的通道標(biāo)記，每個(gè)所述芯片的通道標(biāo)記與每個(gè)所述芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果有對(duì)應(yīng)關(guān)系；

所述根據(jù)每個(gè)所述芯片對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果和所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果對(duì)所述目標(biāo)芯片進(jìn)行解算功能檢測(cè)，得到所述目標(biāo)芯片的解算功能檢測(cè)結(jié)果的步驟，包括：

獲取所述目標(biāo)芯片的通道對(duì)應(yīng)的通道標(biāo)記；

根據(jù)所述目標(biāo)芯片的通道對(duì)應(yīng)的通道標(biāo)記，確定所述目標(biāo)芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果；

判斷所述目標(biāo)芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果與所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果是否相同；

若是，則確定所述目標(biāo)芯片的通道正常；

若否，則將所述目標(biāo)芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果與所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行記錄，并發(fā)出通道報(bào)錯(cuò)提示，所述通道報(bào)錯(cuò)提示用于表征所述目標(biāo)芯片的通道異常；

所述解算參數(shù)包括數(shù)據(jù)庫(kù)文件，所述標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果為上位機(jī)幅相碼，所述對(duì)比檢測(cè)結(jié)果為波控板回讀幅相碼；

所述根據(jù)所述解算參數(shù)計(jì)算得到每個(gè)所述芯片對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果的步驟，包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)的頻率等級(jí)和加權(quán)等級(jí)對(duì)所述數(shù)據(jù)庫(kù)文件進(jìn)行解算，得到每個(gè)所述芯片的通道對(duì)應(yīng)的上位機(jī)幅相數(shù)據(jù)；

分別對(duì)每個(gè)所述芯片的通道對(duì)應(yīng)的上位機(jī)幅相數(shù)據(jù)進(jìn)行量化編碼，得到每個(gè)所述芯片對(duì)應(yīng)的上位機(jī)幅相碼；

所述判斷所述目標(biāo)芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果與所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果是否相同的步驟，包括：

判斷所述目標(biāo)芯片的上位機(jī)幅相碼與所述目標(biāo)芯片的波控板回讀幅相碼的差值是否在量化誤差范圍內(nèi)；

若是，則判定所述目標(biāo)芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果與所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果相同；

若否，則判定所述目標(biāo)芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果與所述目標(biāo)芯片的對(duì)比檢測(cè)結(jié)果不相同。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二檢測(cè)指令包括單通道回讀寄存器指令，所述反饋數(shù)據(jù)為第二隨機(jī)數(shù)；

所述發(fā)送第二檢測(cè)指令至所述波控板，以使所述波控板將反饋數(shù)據(jù)回讀至所述計(jì)算機(jī)設(shè)備的步驟，包括：

發(fā)送所述單通道回讀寄存器指令至所述波控板，以使所述波控板從所述目標(biāo)芯片的寄存器中將基于所述第一隨機(jī)數(shù)下發(fā)的所述第二隨機(jī)數(shù)回讀至所述計(jì)算機(jī)設(shè)備。