[發(fā)明專利]一種P型非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜及其薄膜晶體管制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010936611.2 | 申請日: | 2020-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN112038216A | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 謝應(yīng)濤;陳鵬龍 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶郵電大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275 | 代理人: | 楊柳岸 |
| 地址: | 400065 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶態(tài) 半導(dǎo)體 薄膜 及其 薄膜晶體管 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種P型非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜及其薄膜晶體管制備方法,屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括以下步驟:S1:以碘化亞銅CuI溶解于濃度大于20%的濃氨水,而四碘化錫SnI4溶解于乙醇或異丙醇,分別形成對應(yīng)的前驅(qū)體溶液;然后將兩種不同前驅(qū)體溶液按不同體積比混合成需要的Cu和Sn摩爾比的CuSnIx前驅(qū)體溶液;S2:將不同體積比的CuSnIx前驅(qū)體溶液通過旋涂或打印方式涂覆于基板上,然后通過加熱、光照等退火方式形成需要的摩爾比CuSnIx半導(dǎo)體薄膜。解決溶液法制備P型半導(dǎo)體薄膜及其器件,實現(xiàn)低成本制備。解決目前P型半導(dǎo)體薄膜為多晶態(tài)問題,實現(xiàn)大面積制備均勻非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種P型非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜及其薄膜晶體管制備方法。
背景技術(shù)
非晶態(tài)薄膜晶體管有著較高的遷移率、較高的穩(wěn)定性、大面積制備時的均勻性較好等優(yōu)點,使其成為大尺寸高分辨率顯示面板的最有力的候選者。然而目前非晶態(tài)半導(dǎo)體大部分為N型半導(dǎo)體,為了更好的實現(xiàn)CMOS結(jié)構(gòu),發(fā)展高性能P型半導(dǎo)體成為必需。而目前P型半導(dǎo)體主要有CuO、Cu2O、NiOx、SnO2、CuI等,但是上述半導(dǎo)體薄膜均為多晶態(tài),存在明顯的晶粒邊界以導(dǎo)致薄膜不均勻等諸多問題。基于此,本案提出一種基于溶液法制備CuSnIx非晶半導(dǎo)體薄膜的方法,及其薄膜晶體管制備方法,以期實現(xiàn)大面積、低成本制備。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種P型非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜及其薄膜晶體管制備方法。
為達到上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
一種P型非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜制備方法,該方法包括以下步驟:
S1:以碘化亞銅CuI溶解于濃度大于20%的濃氨水,而四碘化錫SnI4溶解于乙醇或異丙醇,分別形成對應(yīng)的前驅(qū)體溶液;然后將兩種不同前驅(qū)體溶液按不同體積比混合成需要的Cu和Sn摩爾比的CuSnIx前驅(qū)體溶液;
S2:將不同體積比的CuSnIx前驅(qū)體溶液通過旋涂或打印方式涂覆于基板上,然后通過加熱、光照等退火方式形成需要的摩爾比CuSnIx半導(dǎo)體薄膜。
可選的,所述方法具體為:
S11:先將0.05毫克的碘化亞銅CuI溶解于濃度大于20%的濃氨水,然后將0.05毫克的四碘化錫SnI4溶解于乙醇,濃度范圍為0.05~0.4摩爾/升;然后將四碘化錫SnI4溶液與碘化亞銅CuI]溶液按照Sn/Cu+Sn摩爾比為5%~10%混合形成CuSnIx前驅(qū)體溶液;
S12:為更好的溶解,將CuSnIx前驅(qū)體溶液進行超聲處理30分鐘到1個小時,然后過濾備用;
S13:將不同摩爾比的CuSnIx前驅(qū)體溶液旋涂于已清洗的硅片或玻璃基板上,得到約20納米CuSnIx半導(dǎo)體薄膜,然后在O21ppm的氮氣環(huán)境下進行加熱退火處理1~2小時,退火溫度小于150攝氏度,完成薄膜制備。
可選的,將所述CuSnIx半導(dǎo)體薄膜作為溝道層材料,絕緣層為二氧化硅、氧化鋁或氧化鋯;金屬源漏電極為高功函數(shù)導(dǎo)電材料,包括金或鉑。
可選的,(1)在玻璃基板或者硅片上,通過噴墨打印或者旋涂等方法,控制滴入導(dǎo)電墨水劑量,包括金、銀或PDOT:PSS導(dǎo)電墨水,形成柵電極圖案;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





