[發明專利]一種涂層反射比測試裝置及其測試方法在審
| 申請號: | 202010936600.4 | 申請日: | 2020-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN112033935A | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發明(設計)人: | 高孝麟;王存剛 | 申請(專利權)人: | 雅士利涂料(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/47 | 分類號: | G01N21/47 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275 | 代理人: | 陰知見 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 涂層 反射 測試 裝置 及其 方法 | ||
本發明公開了一種涂層反射比測試裝置及方法,其在測試箱內部限定有可將光源、測試板支架和測試儀器包圍的測試空間,并在測試空間的壁面設有啞光材料層,使測試空間不受外界環境影響,由光源模擬陰天自然光條件,具有如下優點:1、僅需準備表面具有被測涂層的測試板,而無須對環境進行處理(例如無需在測試空間的壁面涂覆被測涂層),可反復使用,從而大幅度降低測試周期和測試成本;2、測試空間封閉后,不受外界環境影響,通過光源能夠準確以及穩定地模似出符合條件的陰天自然光,從而保證測試精度。3、整個測試裝置可制作為較為小巧,移動方便,且使用時間和地點不受限制,可實現隨時隨地進行測試的目的。
技術領域
本發明涉及檢測設備領域,特別涉及一種涂層反射比測試裝置及其測試方法。
背景技術
反射比是從材質反射的漫反射光能的百分比,一般而言,增加材質的HSV 中的明度(V)時,材質會反射出更多的漫反射光線,而降低材質的“不透明度”則將降低其反射比。
基于不同的使用場合,對材質的反射比有不同的要求,一般而言,反射比需通過測試確定。以建筑涂層為例,現有的建筑涂層反射比測試主要參考GB/T 5699-2017中9.2.2用測試儀器測量室內表面反射比的方法,此測試方法在測試涂料反射比的步驟為:①涂刷:需要在一個密閉的房間的墻面上涂刷需要測試的涂料,涂刷兩遍,共兩天;②干燥:等待涂料自干,時間為七天;③測試:在房間內安裝多探頭測試裝置架,再用反射比測試儀進行測試,最終完成測試工作。此測試方法存在以下缺點:1、涂刷后需要等待大量時間直到涂層自然晾干,耗時長;2、測試時的光源需要陰天自然光,環境條件要求苛刻;3、測試中需要人員在房間中調整探頭,容易對最終測試結果產生干擾。4、每次測試需耗費大量的人力和物力,測試周期長且測試成本高。
發明內容
本發明的主要目的是提出一種涂層反射比測試裝置及其測試方法,旨在縮短測試周期、降低測試難度和成本,并提高測試精度。
為實現上述目的,本發明提出一種涂層反射比測試裝置,包括:
測試箱,所述測試箱內限定有可打開和封閉的測試空間,測試空間的壁面設有啞光材料層;
光源,所述光源設于所述測試箱,用于將散射光投射到測試空間中;
測試板支架,所述測試板支架設于所述測試空間中,用于放置測試板;以及
測試儀器,所述測試儀器設于所述測試空間中,用于檢測測試板上的涂層反射比。
為實現上述目的,本發明還提出一種涂層反射比測試方法,包括如下步驟:
S1、在測試板表面涂覆被測涂層,并在被測涂層干燥后裝于測試板支架;
S2、關閉測試空間并在一定的溫度和濕度下,使光源發光以在測試空間中模擬陰天自然光;
S3、通過測試儀器對測試板的涂層進行測試,并獲取涂層的反射比。
本發明技術方案在測試箱內部限定有可將光源、測試板支架和測試儀器包圍的測試空間,并在測試空間的壁面設有啞光材料層,使測試空間不受外界環境影響,由光源模擬陰天自然光(GB/T 20148)條件,具有如下優點:1、僅需準備表面具有被測涂層的測試板,而無須對環境進行處理(例如無需在測試空間的壁面涂覆被測涂層),可反復使用,從而大幅度降低測試周期和測試成本;2、測試空間封閉后,不受外界環境影響,通過光源能夠準確以及穩定地模似出符合(GB/T 20148)條件的陰天自然光,從而保證測試精度。3、整個測試裝置可制作為較為小巧,移動方便,且使用時間和地點不受限制,可實現隨時隨地進行測試的目的。
附圖說明
圖1為本發明處于測試空間關閉狀態的立體示意圖;
圖2為本發明處于測試空間關閉狀態的剖視圖;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于雅士利涂料(蘇州)有限公司,未經雅士利涂料(蘇州)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010936600.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種去藍光涂層
- 下一篇:一種P型非晶態半導體薄膜及其薄膜晶體管制備方法





