[發(fā)明專(zhuān)利]高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試裝置和測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010935169.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114157297A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邴春秋 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 圣邦微電子(北京)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H03M1/10 | 分類(lèi)號(hào): | H03M1/10 |
| 代理公司: | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡純;李鎮(zhèn)江 |
| 地址: | 100089 北京市海淀*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高精度 轉(zhuǎn)換 芯片 測(cè)試 裝置 方法 | ||
1.一種高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
電源模塊,用于提供高精度的多個(gè)模擬輸入信號(hào),所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)經(jīng)過(guò)多個(gè)待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片后被轉(zhuǎn)換為多組數(shù)字信號(hào);
數(shù)字萬(wàn)用表,與待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的輸入端連接,用于對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量,以獲得對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)量值;
測(cè)試機(jī),用于將所述多個(gè)測(cè)試值依次和所述多組數(shù)字信號(hào)中的一組數(shù)字信號(hào)進(jìn)行對(duì)比,以分別獲得多個(gè)待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試精度,
其中,每組數(shù)字信號(hào)均對(duì)應(yīng)包括多個(gè)數(shù)字信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于,所述電源模塊包括:
參考電源,用于提供標(biāo)準(zhǔn)的第一基準(zhǔn)電壓和第二基準(zhǔn)電壓;
可編程電源,與所述參考電源連接,用于根據(jù)所述第一基準(zhǔn)電壓和所述第二基準(zhǔn)電壓編程產(chǎn)生高精度的所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于,所述測(cè)試機(jī)還通過(guò)通用接口總線(xiàn)與所述數(shù)字萬(wàn)用表連接,用以控制實(shí)現(xiàn)所述數(shù)字萬(wàn)用表對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)的電壓值的自動(dòng)測(cè)試及自動(dòng)校準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1和3中任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置,其特征在于,所述數(shù)字萬(wàn)用表的型號(hào)為3458A。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于,所述測(cè)試裝置還包括:
第一電容,連接與所述電源模塊的第一輸出端與接地端之間;
第二電容,連接與所述電源模塊的第二輸出端與接地端之間,
其中,所述電源模塊的第一輸出端和第二輸出端用于以差分形式輸出所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)。
6.一種高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試方法,其特征在于,包括:
由電源模塊提供高精度的多個(gè)模擬輸入信號(hào);
由數(shù)字萬(wàn)用表對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量,以獲得多個(gè)測(cè)量值;
將所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)依次輸入至多個(gè)待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片,以獲得多組數(shù)字信號(hào);
由測(cè)試機(jī)將所述多個(gè)測(cè)試值依次和所述多組數(shù)字信號(hào)中一組數(shù)字信號(hào)進(jìn)行對(duì)比,分別獲得所述多個(gè)待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試精度,
其中,所述方法還包括:
對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)輸入過(guò)的待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的個(gè)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),并在計(jì)數(shù)值達(dá)到預(yù)設(shè)閾值時(shí),控制所述數(shù)字萬(wàn)用表對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)測(cè)量,并計(jì)數(shù)清零。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法,其特征在于,由電源模塊提供高精度的模擬輸入信號(hào)包括:
由參考電源提供標(biāo)準(zhǔn)的第一基準(zhǔn)電壓和第二基準(zhǔn)電壓;
由可編程電源根據(jù)所述第一基準(zhǔn)電壓和所述第二基準(zhǔn)電壓編程產(chǎn)生高精度的所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法,其特征在于,由數(shù)字萬(wàn)用表對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量時(shí),還包括:由所述測(cè)試機(jī)通過(guò)通用接口總線(xiàn)控制所述數(shù)字萬(wàn)用表,以實(shí)現(xiàn)對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)的自動(dòng)測(cè)試及自動(dòng)校準(zhǔn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述方法還包括:在計(jì)數(shù)值達(dá)到預(yù)設(shè)閾值之前,若檢測(cè)到對(duì)所述多個(gè)待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片中某個(gè)待測(cè)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試失效,則控制所述數(shù)字萬(wàn)用表對(duì)所述多個(gè)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)測(cè)量,并計(jì)數(shù)清零。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述數(shù)字萬(wàn)用表的型號(hào)為3458A。
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