[發(fā)明專利]基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法及校準系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112129492A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發(fā)明（設計）人: 李文興;謝銳華;胡婉君;王卓念
• 申請（專利權）人: 廣州廣電計量檢測股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳偉斌

本發(fā)明提供一種基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法及校準系統(tǒng)，所述的方法步驟以下：產生穩(wěn)定的頻率參考信號；根據(jù)不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形信號，并對光源進行調制；光源通過調制產生的頻閃光信號，進行匯聚作用，并輸出到參考探測器上，參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上，頻率計對光信號進行測量、數(shù)值顯示，記下該數(shù)值；將待校準的光源頻閃測試儀替換參考探測器和頻率計，即光源產生的頻閃光信號通過匯聚作用后，輸出到待校準的光源頻閃測試儀；通過利用待校準的光源頻閃測試儀對光信號直接進行測量，通過不斷的調試，使得待校準的光源頻閃測試儀讀取數(shù)值與頻率計讀取的數(shù)值一致，完成校準。

技術領域

本發(fā)明涉及光源頻閃測試領域，更具體地，涉及一種基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法及校準系統(tǒng)。

背景技術

光源頻閃測試儀是用于對光源或其他照明設備的頻閃效應進行測試的儀器，目前國內尚無光源頻閃測試儀的計量技術規(guī)范，也沒有相關自動校準系統(tǒng)或方法的專利。對于光源頻閃測試儀的校準，目前杭州遠方光電、日本京立電機等儀器生產廠商主要使用參考示波器與被檢光源頻閃測試儀進行人工比對的方法，其校準裝置主要由光源、光電轉換器、參考示波器組成。

然而以上現(xiàn)有技術存在以下不足：

1.校準效率低；2.頻率測量精度不高，不利于光源閃爍頻率的溯源；3.只能對閃爍頻率、閃爍指數(shù)兩個參數(shù)進行計量。

發(fā)明內容

本發(fā)明為克服上述現(xiàn)有技術對光源頻閃測試儀校準不夠精準，效率不高的問題，提供了一種基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法及其校準系統(tǒng)，實現(xiàn)光源頻閃測試儀高精度的計量測試及溯源，同時提供校準效率。

為解決上述技術問題，本發(fā)明的技術方案如下：一種基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法，所述的校準方法包括以下步驟：

S1：產生穩(wěn)定的頻率參考信號；

S2：根據(jù)不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形信號，并對光源進行調制；

S3：光源通過調制產生的頻閃光信號，進行匯聚作用，并輸出到參考探測器上，參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上，頻率計對光信號進行測量、數(shù)值顯示，記下該數(shù)值；

S4：將待校準的光源頻閃測試儀替換參考探測器和頻率計，即光源產生的頻閃光信號通過匯聚作用后，輸出到待校準的光源頻閃測試儀；

S5：通過利用待校準的光源頻閃測試儀對光信號直接進行測量，通過不斷的調試，使得待校準的光源頻閃測試儀讀取數(shù)值與頻率計讀取的數(shù)值一致，完成校準。

所述的輸出波形信號包括正弦波、方波、脈沖波、幅度調制信號、脈沖寬度調制信號、振幅鍵控調制信號。

基于以上所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法，本發(fā)明還提供一種基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準方法的系統(tǒng)，所述的系統(tǒng)包括原子頻率標準儀、任意波形發(fā)生器、發(fā)光二極管、聚光鏡、參考探測器、頻率計、待測量的光源頻閃測試儀；

所述的原子頻率標準儀，用于產生穩(wěn)定的頻率參考信號；

所述的任意波形發(fā)生器，根據(jù)不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形，并對發(fā)光二極管進行調制，產生頻閃光信號；

所述的聚光鏡對發(fā)光二極管產生的頻閃光信號進行匯聚，并輸出光信號到參考探測器上；

所述的參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上，頻率計對光信號進行測量、數(shù)值顯示，記下該數(shù)值；

利用所述的待測量的光源頻閃測試儀替換所述的參考探測器、頻率計，即將聚光鏡輸出的頻閃光信號輸入待測量的光源頻閃測試儀，通過調整光源頻閃測試儀使得顯示數(shù)值與頻率計顯示的數(shù)值一致，完成校準。