[發(fā)明專利]基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法及校準(zhǔn)系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112129492A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李文興;謝銳華;胡婉君;王卓念
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 陳偉斌

1.一種基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法，其特征在于：所述的校準(zhǔn)方法包括以下步驟：

S1：產(chǎn)生穩(wěn)定的頻率參考信號；

S2：根據(jù)不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形信號，并對光源進(jìn)行調(diào)制；

S3：光源通過調(diào)制產(chǎn)生的頻閃光信號，進(jìn)行匯聚作用，并輸出到參考探測器上，參考探測器將接收到的光信號進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換輸出到頻率計(jì)上，頻率計(jì)對光信號進(jìn)行測量、數(shù)值顯示，記下該數(shù)值；

S4：將待校準(zhǔn)的光源頻閃測試儀替換參考探測器和頻率計(jì)，即光源產(chǎn)生的頻閃光信號通過匯聚作用后，輸出到待校準(zhǔn)的光源頻閃測試儀；

S5：通過利用待校準(zhǔn)的光源頻閃測試儀對光信號直接進(jìn)行測量，通過不斷的調(diào)試，使得待校準(zhǔn)的光源頻閃測試儀讀取數(shù)值與頻率計(jì)讀取的數(shù)值一致，完成校準(zhǔn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法，其特征在于：所述的頻率計(jì)可以采用示波器替換。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2任一項(xiàng)所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法，其特征在于：所述的輸出波形信號包括正弦波、方波、脈沖波、幅度調(diào)制信號、脈沖寬度調(diào)制信號、振幅鍵控調(diào)制信號。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法，其特征在于：還對輸出波形進(jìn)行自定義，實(shí)現(xiàn)光源的閃爍頻率、閃爍指數(shù)、閃爍百分比的計(jì)量。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法，其特征在于：所述的閃爍指數(shù)的計(jì)算公式如下：

式中，S1表示一個周期內(nèi)平均值以上部分的波形面積，S2表示一個周期內(nèi)平均值以下部分的波形面積。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法，其特征在于：所述的閃爍百分比的計(jì)算公式如下：

通過自定義波形的y_max、y_min值并進(jìn)行計(jì)算，輸出不同調(diào)制深度值的光信號。

7.一種基于權(quán)利要求1～6任一項(xiàng)所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于：所述的系統(tǒng)包括原子頻率標(biāo)準(zhǔn)儀、任意波形發(fā)生器、發(fā)光二極管、聚光鏡、參考探測器、頻率計(jì)、待測量的光源頻閃測試儀；

所述的原子頻率標(biāo)準(zhǔn)儀，用于產(chǎn)生穩(wěn)定的頻率參考信號；

所述的任意波形發(fā)生器，根據(jù)不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形，并對發(fā)光二極管進(jìn)行調(diào)制，產(chǎn)生頻閃光信號；

所述的聚光鏡對發(fā)光二極管產(chǎn)生的頻閃光信號進(jìn)行匯聚，并輸出光信號到參考探測器上；

所述的參考探測器將接收到的光信號進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換輸出到頻率計(jì)上，頻率計(jì)對光信號進(jìn)行測量、數(shù)值顯示，記下該數(shù)值；

利用所述的待測量的光源頻閃測試儀替換所述的參考探測器、頻率計(jì)，即將聚光鏡輸出的頻閃光信號輸入待測量的光源頻閃測試儀，通過調(diào)整光源頻閃測試儀使得顯示數(shù)值與頻率計(jì)顯示的數(shù)值一致，完成校準(zhǔn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于：所述的頻率計(jì)可以采用示波器替換。

9.根據(jù)權(quán)利要求7或8任一項(xiàng)所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于：所述的任意波形發(fā)生器，用于為發(fā)光二極管提供能量使其發(fā)光，同時輸出調(diào)制信號對發(fā)光二極管進(jìn)行調(diào)制，根據(jù)不同的測試需求輸出正弦波、方波、脈沖波、幅度調(diào)制信號、脈沖寬度調(diào)制信號、振幅鍵控調(diào)制信號。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于發(fā)光二極管的簡易光源頻閃測試儀的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于：所述的參考探測器的頻帶寬度大于輸出光信號的頻帶寬度。