[發(fā)明專利]一種基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010933911.5
• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112067861A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發(fā)明（設計）人: 陳振華;王建如
• 申請（專利權）人: 南京信息工程大學
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 南京鐘山專利代理有限公司 32252
• 代理人: 蔣廈

1.一種基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：包括第一壓片層、金屬滑塊、第二壓片層和彈簧螺釘；

所述的第一壓片層上具有五個固定孔，包括第一固定孔、第二固定孔、第三固定孔、第四固定孔和第五固定孔；所述的第二固定孔為SMA接口穿過孔，所述的第二固定孔的上、下兩側為SMA連接器的固定螺孔，分別為第一固定孔、第三固定孔；所述的第四固定孔和第五固定孔為彈簧螺釘?shù)墓潭菘祝糜谡{節(jié)與固定夾具；

所述的第一壓片層上具有三個突起的金屬塊，分別為第一金屬塊、第二金屬塊和第三金屬塊，所述的第一金屬塊、第二金屬塊為矩形，用于和金屬滑塊一起固定微波電路板；所述的第三金屬塊為圓柱形金屬塊，用于調整金屬滑塊和第二壓片層的位置，從而調節(jié)夾具適用于不同厚度微波電路板；

所述的金屬滑塊一側具有斜坡，為第一斜坡，在第一斜坡下端有一處3/4圓孔，所述的3/4圓孔用于在夾具組合后與SMA連接器的第三固定孔相吻合；

所述的第二壓片層上側具有斜坡，為第二斜坡，所述的第二斜坡與所述的第一斜坡相契合，所述的第二斜坡下方有三個圓孔，分別為第一圓孔、第二圓孔和第三圓孔，所述的第一圓孔為第一壓片層上圓柱形的第三金屬塊的穿過孔，所述的第二圓孔和第三圓孔為彈簧螺釘?shù)墓潭菘祝脧椈陕葆攲⒄{節(jié)好的夾具進行固定。

2.根據(jù)權利要求1所述的基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：所述的第一固定孔、第三固定孔通過固定螺釘進行固定。

3.根據(jù)權利要求1所述的基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：所述的第二壓片層通過第一圓孔在第一壓片層上的圓柱形第三金屬塊前后移動。

4.根據(jù)權利要求1所述的基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：金屬滑塊與第一壓片層上的兩個矩形金屬塊之間產(chǎn)生的空隙用來適應不同厚度的微波電路板。

5.根據(jù)權利要求1所述的基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：所述的彈簧螺釘為兩個，包括第一彈簧螺釘、第二彈簧螺釘。

6.根據(jù)權利要求5所述的基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：所述的第一彈簧螺釘穿過第四固定孔和第二圓孔，并固定。

7.根據(jù)權利要求5所述的基片厚度連續(xù)可調的微波電路測試夾具，其特征在于：所述的第二彈簧螺釘穿過第五固定孔和第三圓孔，并固定。