[發明專利]一種vSAN性能測試方法、裝置、計算機設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010930265.7
• 申請日: 2020-09-07
• 公開（公告）號: CN112187564B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 閻秀忠
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: H04L43/50
• 分類號: H04L43/50;H04L43/0817;H04L43/067;H04L41/069
• 代理公司: 北京連和連知識產權代理有限公司 11278
• 代理人: 宋薇薇;楊帆

本發明公開了一種vSAN性能測試方法、裝置、計算機設備及存儲介質。所述方法包括：對待測試vSAN進行VMware認證測試，并獲取VMware認證測試生成的日志文件；利用預設關鍵字從所述日志文件中提取測試單元對應的日志信息；對測試單元對應的日志信息進行分析計算，以確定所述測試單元的持續時間；將所述測試單元的持續時間與預設參考時間進行比較，若所述持續時間大于預設參考時間，則確認所述待測試vSAN在VMware認證測試中執行所述測試單元時阻塞并基于阻塞判斷vSAN的性能。本發明的方案具有測試周期短的優點，并且能夠節省搭建測試環境及數據分析處理的資金、人力的投入，為后續評價vSAN的穩定性提供了可靠依據。

技術領域

本申請涉及測試領域，尤其涉及一種vSAN性能測試方法、裝置、計算機設備及存儲介質。

背景技術

vSAN（virtual SAN）是一種分布式存儲架構，其上可部署大量的應用，具有高可用等優點。vSAN由緩存層和容量層兩部分組成，在寫過程中首先將數據寫入緩存層中，待緩存層數據容量達到一定量后被轉入容量層；讀過程中首先從緩存讀取數據，從緩存層中未讀取到時再到容量層讀取。vSAN中經常出現緩存層數據已滿盤，但后端容量層一直無法完全處理緩存層傳遞的數據的情況，導致大量數據阻塞，此時將會出現較大延遲、卡頓、甚至操作中斷等情形。近些年來，vSAN被廣泛的應用于通信、金融等領域，為不影響關鍵應用終端用戶的良好感知，對vSAN穩定性提出了較高要求。

目前，vSAN性能測試主要通過搭建模擬客戶現場的vSAN環境，此種方式需要大量硬件支持，并且還需要投入大量人力用于測試執行及后期數據分析，測試周期較長，因此現有的vSAN性能測試亟需改進。

發明內容

有鑒于此，有必要針對以上技術問題提供一種vSAN性能測試方法、裝置、計算機設備及存儲介質。

根據本發明的一方面，提供了一種vSAN性能測試方法，所述方法包括：

對待測試vSAN進行VMware認證測試，并獲取VMware認證測試生成的日志文件；

利用預設關鍵字從所述日志文件中提取測試單元對應的日志信息；

對測試單元對應的日志信息進行分析計算，以確定所述測試單元的持續時間；

將所述測試單元的持續時間與預設參考時間進行比較，若所述持續時間大于預設參考時間，則確認所述待測試vSAN在VMware認證測試中執行所述測試單元時阻塞并基于所述阻塞判斷所述vSAN的性能。

在其中一個實施例中，所述對待測試vSAN進行VMware認證測試，并獲取VMware認證測試生成的日志文件的步驟包括：

對所述待測試vSAN進行LTreset測試，并生成LTreset日志；

獲取所述LTreset日志。

在其中一個實施例中，所述利用預設關鍵字從所述日志文件中提取測試單元對應的日志信息的步驟包括：

利用第一預設關鍵字從所述LTreset日志中篩選出測試開始日志信息；

利用第二預設關鍵字從所述LTreset日志中篩選出測試結束日志信息。

在其中一個實施例中，所述對測試單元對應的日志信息進行分析計算，以確定所述測試單元的持續時間的步驟包括：

利用預設提取函數從所述測試開始日志信息中提取測試開始時間；

利用預設提取函數從所述測試結束日志信息中提取測試結束時間；

將所述測試結束時間與所述測試開始時間的差值作為所述持續時間。

在其中一個實施例中，所述LTreset測試包括多個測試單元。