[發(fā)明專利]一種vSAN性能測試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010930265.7
• 申請日: 2020-09-07
• 公開（公告）號(hào): CN112187564B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 閻秀忠
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號(hào): H04L43/50
• 分類號(hào): H04L43/50;H04L43/0817;H04L43/067;H04L41/069
• 代理公司: 北京連和連知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11278
• 代理人: 宋薇薇;楊帆

1.一種vSAN性能測試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

對(duì)待測試vSAN進(jìn)行VMware認(rèn)證測試，并獲取VMware認(rèn)證測試生成的日志文件；

利用預(yù)設(shè)關(guān)鍵字從所述日志文件中提取測試單元對(duì)應(yīng)的日志信息，其中，測試單元即為使vSAN進(jìn)行讀寫的最小單位；

對(duì)測試單元對(duì)應(yīng)的日志信息進(jìn)行分析計(jì)算，以確定所述測試單元的持續(xù)時(shí)間；

將所述測試單元的持續(xù)時(shí)間與預(yù)設(shè)參考時(shí)間進(jìn)行比較，若所述持續(xù)時(shí)間大于預(yù)設(shè)參考時(shí)間，則確認(rèn)所述待測試vSAN在VMware認(rèn)證測試中執(zhí)行所述測試單元時(shí)阻塞并基于所述阻塞判斷所述vSAN的性能。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對(duì)待測試vSAN進(jìn)行VMware認(rèn)證測試，并獲取VMware認(rèn)證測試生成的日志文件的步驟包括：

對(duì)所述待測試vSAN進(jìn)行LTreset測試，并生成LTreset日志；

獲取所述LTreset日志。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用預(yù)設(shè)關(guān)鍵字從所述日志文件中提取測試單元對(duì)應(yīng)的日志信息的步驟包括：

利用第一預(yù)設(shè)關(guān)鍵字從所述LTreset日志中篩選出測試開始日志信息；

利用第二預(yù)設(shè)關(guān)鍵字從所述LTreset日志中篩選出測試結(jié)束日志信息。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述對(duì)測試單元對(duì)應(yīng)的日志信息進(jìn)行分析計(jì)算，以確定所述測試單元的持續(xù)時(shí)間的步驟包括：

利用預(yù)設(shè)提取函數(shù)從所述測試開始日志信息中提取測試開始時(shí)間；

利用預(yù)設(shè)提取函數(shù)從所述測試結(jié)束日志信息中提取測試結(jié)束時(shí)間；

將所述測試結(jié)束時(shí)間與所述測試開始時(shí)間的差值作為所述持續(xù)時(shí)間。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述LTreset測試包括多個(gè)測試單元。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取每個(gè)測試單元的持續(xù)時(shí)間和測試開始時(shí)間；

按照時(shí)間順序以折線圖方式展示每個(gè)測試單元的持續(xù)時(shí)間。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述vSAN具有緩存層和容量層，所述緩存層為固態(tài)硬盤，所述容量層為機(jī)械硬盤。

8.一種vSAN性能測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

日志文件獲取模塊，用于對(duì)待測試vSAN進(jìn)行VMware認(rèn)證測試，并獲取VMware認(rèn)證測試生成的日志文件；

提取模塊，用于利用預(yù)設(shè)關(guān)鍵字從所述日志文件中提取測試單元對(duì)應(yīng)的日志信息，其中，測試單元即為使vSAN進(jìn)行讀寫的最小單位；

分析計(jì)算模塊，用于對(duì)測試單元對(duì)應(yīng)的日志信息進(jìn)行分析計(jì)算，以確定所述測試單元的持續(xù)時(shí)間；

比較模塊，用于將所述測試單元的持續(xù)時(shí)間與預(yù)設(shè)參考時(shí)間進(jìn)行比較，若所述持續(xù)時(shí)間大于預(yù)設(shè)參考時(shí)間，則確認(rèn)所述待測試vSAN在VMware認(rèn)證測試中執(zhí)行所述測試單元時(shí)阻塞并基于所述阻塞判斷所述vSAN的性能。

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，其特征在于，包括：

至少一個(gè)處理器；以及

存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有可在所述處理器中運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的方法。