[發明專利]版輥表面缺陷檢測裝備及方法

在審

• 申請號: 202010928459.3
• 申請日: 2020-09-07
• 公開（公告）號: CN111982920A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 周華;朱登明;彭澤;朱正剛;葉曉青
• 申請（專利權）人: 太倉中科信息技術研究院
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 蘇州見山知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32421
• 代理人: 袁麗花

1.一種版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，包括底座、安裝在所述底座上的水平移動裝置和夾持裝置，所述水平移動裝置包括橫向移動機構、安裝在所述橫向移動機構上的縱向移動機構，所述縱向移動機構上安裝有拍攝機構，所述拍攝機構包括光源、相機以及安裝在所述相機上的鏡頭，所述版輥水平安裝在所述夾持裝置上，所述光源對準所述版輥的中軸線。

2.根據權利要求1所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，所述夾持裝置包括能夠相向或背離運動的兩個夾具，每個所述夾具包括第一驅動組件、安裝在所述第一驅動組件上的夾桿，所述夾桿的一端呈錐狀。

3.根據權利要求2所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，所述夾桿的一端連接有圓柱塊。

4.根據權利要求3所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，所述夾桿包括夾桿本體、與所述夾桿本體可拆卸連接的支桿。

5.根據權利要求4所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，每個所述第一驅動組件上安裝有第二驅動組件，所述第二驅動組件與對應的所述支桿相連接。

6.根據權利要求1所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，所述底座上安裝有至少一個第一直線運動滑軌，所述第一直線運動滑軌上配合有第一滑塊，所述第一滑塊上安裝有第一承載平臺，所述第一承載平臺與所述橫向移動機構相連接。

7.根據權利要求6所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，所述第一承載平臺上安裝有至少一個第二直線運動滑軌，所述第二直線運動滑軌上配合有第二滑塊，所述第二滑塊上安裝有第二承載平臺，所述第二承載平臺與所述縱向移動機構相連接。

8.根據權利要求1所述的版輥表面缺陷檢測裝備，其特征在于，所述底座上安裝有激光燈。

9.一種版輥表面缺陷檢測方法，其特征在于，使用如權利要求1-8中任一項所述的檢測裝備，包括以下步驟：

(1)當夾持裝置夾緊版輥時，啟動拍攝機構，縱向移動機構驅動拍攝機構縱向移動，獲得最佳拍攝位置；

(2)獲得最佳拍攝位置后，拍攝機構在縱向坐標上保持不變；

(3)當版輥轉動起來時，橫向移動機構帶動縱向移動機構和拍攝機構進行橫向移動，進行多次拍攝。

10.根據權利要求9所述的版輥表面缺陷檢測方法，其特征在于，還包括當檢測到版輥表面有缺陷時，對檢測到的缺陷進行標記。