[發(fā)明專利]一種硅片熱氧化濕氧工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010923895.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111986993A | 公開(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 仝泉;周曉飛;田獻(xiàn)立;劉麗娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 麥斯克電子材料有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/316 | 分類號(hào): | H01L21/316 |
| 代理公司: | 洛陽公信知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 41120 | 代理人: | 衛(wèi)煜睿 |
| 地址: | 471000 河南省洛*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 硅片 氧化 工藝 | ||
本發(fā)明的一種硅片熱氧化濕氧工藝,包括構(gòu)建硅片熱氧化濕氧工藝過程高純水加注量確定的步驟和方法,具體包括在氧化爐爐管后部設(shè)置計(jì)量泵和氣體噴頭;通過計(jì)量泵將高純水注入氣體噴頭;氣體噴頭將注入的高純水霧化成水汽注入氧化爐爐管,水汽進(jìn)入氧化爐爐管后,分解成氫氣和氧氣,與硅片發(fā)生反應(yīng),在硅片表面形成氧化膜;通過調(diào)整計(jì)量泵注入氧化爐爐管內(nèi)純水的量控制硅片表面氧化膜的生長厚度。本發(fā)明提高了硅片氧化濕氧工藝的安全可靠性,減少了濕氧過程引入污染的幾率,通過控制計(jì)量泵注入純水的流量和濕氧工藝時(shí)間,可精準(zhǔn)控制硅片氧化工藝氧化膜的生長厚度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體硅片生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種硅片熱氧化濕氧工藝。
背景技術(shù)
目前,硅片熱氧化,是在硅片表面生長一層優(yōu)質(zhì)的氧化層對(duì)整個(gè)半導(dǎo)體集成電路制造過程具有極為重要的意義。它不僅作為離子注入或熱擴(kuò)散的掩蔽層,而且也是保證器件表面不受周圍氣氛影響的鈍化層,它不光是器件與器件之間電學(xué)隔離的絕緣層,而且也是MOS工藝以及多層金屬化系統(tǒng)中保證電隔離的主要組成部分。因此了解硅氧化層的生長機(jī)理,控制并重復(fù)生長優(yōu)質(zhì)的硅化層方法對(duì)保證高質(zhì)量的集成電路可靠性是至關(guān)重要的;在硅片襯底加工過程中,為了檢驗(yàn)襯底內(nèi)部的微缺陷,同樣需要對(duì)硅片進(jìn)行熱氧化工藝模擬,以驗(yàn)證襯底硅片的熱穩(wěn)定性。
在硅片表面形成SiO2的技術(shù)有很多種:熱氧化生長,熱分解淀積(即CD法),外延生長,真空蒸發(fā),反應(yīng)濺射及陽極氧化法等。其中熱生長氧化在集成電路工藝中用得最多,其操作簡便,且氧化層致密,足以用作為擴(kuò)散掩蔽層,通過光刻易形成定域擴(kuò)散圖形等其它應(yīng)用。硅熱氧化工藝按所用的氧化氣氛可分為:干氧氧化和濕氧氧化。干氧氧化是以干燥純凈的氧氣作為氧化氣氛,在高溫下氧直接與硅反應(yīng)生成二氧化硅。傳統(tǒng)濕氧氧化工藝通常有兩種,一種是采用在鼓泡瓶內(nèi)加熱高純水作為水蒸汽源,用干燥氧氣通過加熱的水(常用水溫為95℃)所形成的氧和水汽混合物形成氧化氣氛,見附圖1。另外一種是通過向高溫石英管內(nèi)通入高純氫氣和氧氣,在石英反應(yīng)管進(jìn)口處直接合成水蒸汽的方法進(jìn)行水汽氧化,見附圖2。
但是,傳統(tǒng)的兩種工藝方式存在較大弊端:第一種通過加熱鼓泡瓶的濕氧工藝,首先加熱過程中鼓泡瓶為密閉壓力容器,存在較大安全隱患;其次,濕氧蒸汽氣路中用到的電磁閥芯為金屬材料,容易對(duì)系統(tǒng)造成污染;另外加熱鼓泡瓶蒸發(fā)水蒸氣的濕氧工藝無法精準(zhǔn)控制濕氧蒸汽量,工藝穩(wěn)定性不好。另外一種通過向高溫石英管內(nèi)通入高純氫氣和氧氣的濕氧工藝,氫氣屬于易燃易爆氣體,放置現(xiàn)場使用同樣存在較大安全隱患。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,為解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供了一種硅片熱氧化濕氧工藝,可以有效解決現(xiàn)有濕氧工藝的安全隱患,同時(shí)可以提高濕氧過程的控制精度。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種硅片熱氧化濕氧工藝,該濕氧工藝用到的系統(tǒng)包括氧化爐爐管、氣體噴頭、計(jì)量泵、氮?dú)夤蕖⒀鯕夤蓿鲅趸癄t爐管的后部設(shè)有相連的氣體噴頭和計(jì)量泵;
該濕氧工藝包括以下步驟:
S1:在系統(tǒng)中設(shè)置PFA高純水容器;
S2:所述PFA高純水容器上設(shè)有一進(jìn)氣口,在進(jìn)氣口內(nèi)設(shè)有高效過濾器,PFA高純水容器的其他地方進(jìn)行密閉處理;
S3:在系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置所述氣體噴頭,氣體噴頭連通在氧化爐爐管的后端;
S4:在系統(tǒng)中設(shè)置計(jì)量泵,通過控制模塊與系統(tǒng)連接來自動(dòng)控制計(jì)量泵啟停,控制模塊實(shí)時(shí)調(diào)整計(jì)量泵的流量來控制濕氧過程注入純水的量,進(jìn)而控制硅片表面氧化膜的生長厚度;
S5:所述計(jì)量泵將高純水注入氧氣氣體連通管路,通過所述氣體噴頭將高純水霧化,生成氧氣和水汽的混合氣體,通入氧化爐爐管內(nèi),并分解成氫氣和氧氣,與硅片發(fā)生反應(yīng),在硅片表面形成氧化膜,實(shí)現(xiàn)濕氧工藝。
進(jìn)一步的,所述計(jì)量泵、氮?dú)夤蕖⒀鯕夤夼c氣體噴頭之間分別通過連通管路相連。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





